Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Lannoo, Michel$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Б 91
Автор(ы) : Бургуэн, Жак, Ланно, Мишель
Заглавие : Точечные дефекты в полупроводниках: экспериментальные аспекты
Выходные данные : М.: Мир, 1985
Колич.характеристики :304 с.: ил.
Перевод издания: Bourgoin J. Point defects in semiconductors/ J. Bourgoin, Michel Lannoo
Примечания : Библиогр.: с. 289-297. - Предм. указ.: с. 298-300
Цена : 2.70 р.
ГРНТИ : 29.19.31
ББК : В379.2
Предметные рубрики: Полупроводники-- Дефекты
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие
2.

Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания :
Автор(ы) : Lannoo, Michel, Bourgoin, Jacques
Заглавие : Point defects in semiconductors I : theoretical aspects
Выходные данные : Berlin; Heidelberg; New York: Springer-Verlag, 1981
Колич.характеристики :265 с
Серия: Springer series in solid-state sciences; 22
Примечания : Includes bibliographical references and index.
ISBN, Цена 3-540-10518-2: 25.00 р.
ISBN, Цена 0-387-10518-2: Б.ц.
Предметные рубрики: Semiconductors-- Defects
Point defects
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)