Поисковый запрос: (<.>K=эллипсометрия<.>) |
Общее количество найденных документов : 13
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Свиташева С. Н. Метод эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов/С. Н. Свиташева ; ред. О. П. Пчеляков. - 2019
|
2.
| Ellipsometry at the nanoscale/eds.: M. Losurdo, K. Hingerl. - 2013
|
3.
| Швец В. А. Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te/В. А. Швец ; науч. конс. О. П. Пчеляков ; офиц. опп.: С. Я. Ветров, С. Г. Овчинников, В. И. Пшеницын. - 2010
|
4.
| Handbook of ellipsometry/ed.: H. G. Tompkins, E. A. Irene. - 2005
|
5.
| Эллипсометрия: теория, методы, приложения/Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. - 1991
|
6.
| Эллипсометрия в науке и технике/Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников Вып. 2. - 1990
|
7.
| Эллипсометрия в науке и технике/Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. - 1987
|
8.
| Эллипсометрия: теория, методы, приложения/Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. - 1987
|
9.
| Конев В. А. Радиоволновая эллипсометрия/В. А. Конев, Е. М. Кулешов, Н. Н. Пунько ; ред. И. С. Ковалев. - 1985
|
10.
| Эллипсометрия - метод исследования поверхности/Акад. наук СССР [и др.]. - 1983
|
|
|