Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИФ СО РАН (8)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=эллипсометрия<.>)

Общее количество найденных документов : 13
Показаны документы с 1 по 13

(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/E46
Заглавие : Ellipsometry at the nanoscale
Выходные данные : Heidelberg; New York; Dordrecht: Springer, 2013
Колич.характеристики :XXIV с.: ill.; 24 cm; 730 с
Примечания : Bibliogr. at the end of the chapters
ISBN, Цена 978-3-642-33955-4:
ГРНТИ : 29.31.21 + 29.19.22
ББК : В341.95 + В271.26
Предметные рубрики: Наноструктуры-- Исследование-- Оптические методы
Твердое тело-- Методы исследования-- Эллипсометрия
Экземпляры :КФ(1)
Оглавление
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/Э 47
Заглавие : Эллипсометрия в науке и технике : [сб. докл. конф.]. Вып. 2
Выходные данные : Новосибирск: Ин-т физ. полупровод. СО АН СССР, 1990
Колич.характеристики :189 с
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт физики полупроводников Сибирского отделения АН СССР, "Эллипсометрия: теория, методы, приложения", Всесоюзная конференция (4; 1989 ; июль ; 18-21; Новосибирск)
Примечания : Библиогр. в конце ст. :
ГРНТИ : 29.31.29
ББК : В341.95я431 + В371.25я431 + В374.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/Э 47
Заглавие : Эллипсометрия в науке и технике : [сб. докл. конф.]
Выходные данные : Новосибирск: Ин-т физ. полупровод. СО АН СССР, 1987
Колич.характеристики :205 с
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт физики полупроводников Сибирского отделения АН СССР, "Эллипсометрия: теория, методы, приложения", Всесоюзная конференция (3; 1985 ; июль ; 9-11; Новосибирск)
Примечания : Библиогр. в конце ст. :
ГРНТИ : 29.31.29
ББК : В341.95я431 + В371.25я431 + В374.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/С 24
Автор(ы) : Свиташева, Светлана Николаевна
Заглавие : Метод эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов
Выходные данные : Новосибирск: Изд-во СО РАН, 2019
Колич.характеристики :261, [6] с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.: с. 245-261
ISBN, Цена 978-5-6042856-8-8
ISBN, Цена 978-5-7692-1643-5
Идентификационный №: DOI 10.15372/ELLIPSOMETRY2019SSN
ГРНТИ : 29.19.16 + 29.31.21 + 29.03.31
ББК : В371.26 + В341.95
Аннотация: Интенсивное развитие оптической эллипсометрии обусловлено тем фактом, что изменение состояния поляризации светового луча весьма чувствительно к состоянию этой поверхности. Оптическая эллипсометрия на глазах одного поколения исследователей превратилась из лабораторной экзотики в один из основных методов контроляВ и внесла серьезный вклад в развитие цифровых технологий. Исследования, начатые Малюсом (1808 г.), Брюстером (1815 г.) , Друде (1889 г.), Релеем (1899 г.) и Борном (1926) сыграли значительную роль в развитии классической теории света. Кизель В.А. в своей книге «Отражение света» пишет: «Часто говорят, что закон отражения света древнейший и простейший из всех законов оптики. Если первое утверждение не вызывает сомнений, то простота закона – лишь кажущаяся; более серьезный его анализ выявляет ряд сложных вопросов, не полностью разрешенных и по сей день». При внешней простоте методов оптической эллипсометрии, грамотное и эффективное их использование требует весьма глубоких знаний как в области оптики, так и в области математики. Предлагаемая вниманию читателя книга будет полезна именно для молодого поколения исследователей и разработчиков, которым еще предстоит внести свой вклад в развитие оптической эллипсометрии.
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Г7/Э 47
Заглавие : Эллипсометрия - метод исследования поверхности : [сб. тр. конф.]
Выходные данные : Новосибирск: Наука, 1983
Колич.характеристики :179 с
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт физики полупроводников Сибирского отделения АН СССР, "Элипсометрия - метод исследования физико-химических процессов на поверхности твердых тел", Всесоюз. конф. (2; 1981 ; 29 июня- 1 июля; Новосибирск)
Примечания : Библиогр. в конце ст. :
ГРНТИ : 29.19.19 + 31.15.19
ББК : Г58я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/H22
Заглавие : Handbook of ellipsometry
Выходные данные : Norwich: William Andrew Publ.; Gamburg: Springer, 2005
Колич.характеристики :XVI с.: ill.; 24 cm; 870 с
Примечания : Bibliogr. at the end of the chaptersInd.: p. 857-870
ISBN, Цена 0-8155-1499-9
ISBN, Цена 3-540-22293-6
ГРНТИ : 29.31.21
ББК : В341.95
Предметные рубрики: Твердое тело-- Методы исследования-- Эллипсометрия
Экземпляры :КФ(1)
Оглавление
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/Э 47
Заглавие : Эллипсометрия: теория, методы, приложения : сб. статей
Выходные данные : Новосибирск: Наука, Сиб. отд-ние, 1987
Колич.характеристики :192 с.: ил.
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт физики полупроводников Сибирского отделения АН СССР
Примечания : Библиогр. в конце ст.
Цена : 2.60 р.
ГРНТИ : 29.31.29
ББК : В341.95 + В371.25 + В374.4
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/О-75
Автор(ы) : Ржанов, Анатолий Васильевич, Свиташев К. К., Семененко А. И., Семененко, Людмила Владимировна, Соколов В. К.
Заглавие : Основы эллипсометрии
Выходные данные : Новосибирск: Наука, Сиб. отд-ние, 1979
Колич.характеристики :422 с.: ил.
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт физики полупроводников Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.: с. 375-419
Цена : 4.00, 50.00, р.
ГРНТИ : 29.31.29
ББК : В341.95
Предметные рубрики: Оптические системы-- Эллипсометрия-- Основы
Приборы поляризационные-- Эллипсометрия-- Основы
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/К 64
Автор(ы) : Конев, Владимир Афанасьевич, Кулешов, Евгений Митрофанович, Пунько, Николай Иванович
Заглавие : Радиоволновая эллипсометрия
Выходные данные : Минск: Наука и техника, 1985
Колич.характеристики :104 с.: ил.
Коллективы : Академия наук Белорусской ССР
Примечания : Библиогр.: с. 99-102
Цена : 0.65 р.
ГРНТИ : 29.31
ББК : В341.95
Предметные рубрики: Эллипсометрия
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/Г 70
Автор(ы) : Горшков, Михаил Михайлович
Заглавие : Эллипсометрия
Выходные данные : М.: Сов. радио, 1974
Колич.характеристики :200 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: (207 назв.) :
ГРНТИ : 29.31.21
ББК : В341.95
Предметные рубрики: Твердое тело-- Методы исследования-- Эллипсометрия
Экземпляры : всего 1: КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/У 73
Автор(ы) : Урывский, Юрий Иванович
Заглавие : Эллипсометрия : основы метода
Выходные данные : Воронеж: Изд-во Воронеж. ун-та, 1971
Колич.характеристики :131 с.: граф.
Примечания : Библиогр.: с. 128-129 (26 назв.) :
ГРНТИ : 29.31.27 + 29.31.29
ББК : В341.95
Предметные рубрики: Приборы оптические-- Эллипсометрия
Содержание : Поляризованный свет и его свойства. Способы получения ; Взаимодействие светового потока с веществом. Теоретические основы эллипсометрии ; Методические основы эллипсометрии. Методика проведения эллипсометрических измерений ; Конструирование эллипсометров. Способы юстировки оптических элементов приборов
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Ш 35 рукописный текст
Автор(ы) : Швец, Василий Александрович
Заглавие : Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te : автореферат дис. на соиск. уч. степени д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : Новосибирск, 2010
Колич.характеристики :30 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
Примечания : Библиогр.
ГРНТИ : 29.19.31 + 47.13.11
ББК : В379.2я031
Предметные рубрики: Полупроводники-- Рост кристаллов-- Контроль эллипсометрический-- Исследование
Экземпляры : всего : ДС(1), Автореф.(1)
Свободны : ДС(1), Автореф.(1)
Смотреть автореферат
Найти похожие

13.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/Э 47
Заглавие : Эллипсометрия: теория, методы, приложения : материалы IV Всесоюз. конф. по эллипсометрии, 19-21 июля 1989 г., г. Новосибирск
Выходные данные : Новосибирск: Наука, Сиб. отд-ние, 1991
Колич.характеристики :252 с.: ил.
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт физики полупроводников Сибирского отделения АН СССР, Всесоюзная конференция по эллипсометрии (4; 1989 ; июль ; 19-21; Новосибирск)
Примечания : Библиогр.в конце ст.
ISBN, Цена 5-02-029916-2: 5.30 р.
ГРНТИ : 29.31.29
ББК : В341.95
Предметные рубрики: Эллипсометрия
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Другие библиотеки

Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН

Библиотека института биофизики

Библиотека института химии и химический технологии

Библиотека института вычислительного моделирования

Библиотека института леса

Библиотека СФУ

Краевая научная библиотека

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)