Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН (3)Труды сотрудников ИФ СО РАН (78)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Measurement<.>)
Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-16 
1.

Мейзда Ф. Ф. Электронные измерительные приборы и методы измерений/Ф.Ф. Мейзда ; пер. с англ. В.Д. Новикова. - 1990
2.

Ван дер Зил А. Шум. Источники, описание, измерение/А. Ван дер Зил ; пер. с англ. В. Н. Кулешова, Д. П. Царапкина ; под ред. А. К. Нарышкина. - 1973
3.

Шерклиф Дж. Теория электромагнитного измерения расхода/Дж. Шерклиф ; пер. с англ. С. А.. Регирера, под ред. А. Б. Ватажина ; с предисл. Г. Г. Черного. - 1967
4.

Пфанцагль И. Теория измерений/И. Пфанцагль, В. Бауманн, Г. Хубер ; пер. с англ. В. Б. Кузьмина ; под ред. С. В. Овчинникова. - 1976
5.

Смит Р. Обнаружение и измерение инфракрасного излучения/Р. Смит ; пер. с англ В. И. Алексеева, под ред. В. А. Фабриканта. - 1959
6.

Магнито-резонансная силовая микроскопия и односпиновые измерения/Г. П. Берман, Ф. Боргонови [и др.] ; пер. Е. В. Бондарева ; науч. ред. С. В. Капельницкий. - 2010
7.

Измерение нестационарных температур и тепловых потоков/пер. с англ. под ред. А. Н. Гордова. - 1966
8.

Игнатьев Б. И. Англо-русский словарь по метрологии и технике точных измерений/Б. И. Игнатьев, М. Ф. Юдин ; под ред.: В. И. Кипаренко, Л. К. Исаева. - 1981
9.

MacAdam D. L. Springer series in optical scienses. Vol. 27:Color measurement. Theme and variations/D. L. MacAdam. - 1981
10.

International symposium on measurement technology and intelligent instruments(9;29 June -2 July 2009;Saint-Petersburg). Proceedings/International symposium on measurement technology and intelligent instruments (9 ; 29 June -2 July 2009 ; Saint-Petersburg) Vol. 1: Keynote papers. Sessions: General problems of measurement. Micro-, nano-measurements and metrology. Optical and X-Ray tomography and interferometry. - 2009
 1-10    11-16 
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)