Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН (3)

Труды сотрудников ИФ СО РАН (487)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=electron<.>)

Общее количество найденных документов : 80
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

   В33
   Э 64

    Эндрюс, К.
    Электронограммы и их интерпретация : пер с англ. / К. Эндрюс, Д. Дайсон, С. Киоун ; пер. М. П. Усиков ; ред. пер. Л. Г. Орлов. - М. : мир, 1971. - 256 с. : ил. + 3 л. ил. - Библиогр.: с. 251-252 (58 назв.). - Предм. указ.: с. 253-256. - Пер. изд. : Interpretation of electron diffraction paterrns / K. W. Andrews, D. J. Dyson, S. R. Keown. - 2.00 р.

ГРНТИ

29.31.29

ББК В338.4 + К204.011
Рубрики:
Микроскопия электронная

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Дайсон, Д.; Киоун, С.; Усиков, М. П. \пер.\; Орлов, Л. Г. \ред. пер.\; Andrews, K. W.; Dyson, D. J.; Keown, S. R.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

   В37
   Э 45


    Электронный спиновой резонанс в полупроводниках : сб. статей / пер. с англ. Л. Д. Богомоловой и И. В. Чепелевой, под ред. [и с предисл.] Н. А. Пенина. - М. : Изд-во иностр. лит., 1962. - 380 с. : граф., табл. - Библиогр. в конце ст. - Пер. изд. : Electron spin resonance in semiconductors. - 1.48 р.
    Содержание:
Электронный спиновой резонанс в полупроводниках, содержащих примеси с мелкими энергетическими уровнями
Феер, Дж. Электронная структура доноров в кремнии, определенная с помощью метода двойного электронно-ядерного резонанса / Дж. Феер
Феер, Дж. Эксперименты по электронному спиновому резонансу мелких доноров в германии / Дж. Феер, Д. Уилсон, Е. Герэ
Понтинен, Р. Спектр нового электронного спинового резонанса в германии, легированном сурьмой / Р. Понтинен, Т. Сандерс
Феер, Дж. Парамагнитный резонанс акцепторов в кремнии / Дж. Феер, Дж. Хенсел, Е. Герэ
Бемский, Дж. Спиновой резонанс электронов проводимости в InSb / Дж. Бемский
Спиновая релаксация примесных центров в полупроводниках
Пайнс, Д. Поляризация ядер и процессы спиновой релаксации примесных состояний в кремнии / Д. Пайнс, Дж. Бардини, Ч. Слихтер
Абрагамс, Е. Электронная спиновая релаксация доноров в кремнии / Е. Абрагамс
Феер, Д. Ж. Эффекты электронной спиновой релаксации доноров в кремнии / Д. ж. Феер, Е. Герэ
Хониг, А. Электронная спин-решеточная релаксация в кремнии, легированном фосфором / А. Хониг, Е. Стапп
Хониг, А. Мелкие примесные уровни и кинетика электронных переходов в кремнии n-типа при температуре жидкого гелия / А. Хониг, Р. Левитт
Леви, Р. Резонансное спин-спиновое взаимодействие между донорами и акцепторами в кремнии / Р. Леви
Электронный спиновой резонанс в полупроводниках, содержащих примеси или дефекты с глубокими энергетическими уровнями
Людвиг, Дж. Электронный спиновой резонанс в германии, легированном никелем / Дж. Людвиг, Г. Вудбери
Вудбери, Г. Спиновой резонанс переходных металлов в кремнии / Г. Вудбери, Дж. Людвиг
Людвиг, Дж. Электронная структура ионов переходных металлов в решетке с тетраэдрической симметрией / Дж. Людвиг, Г. Вудбери
Вудбери, Г. Взаимодействие вакансий в кремнии / Г. Вудбери, Дж. Людвиг
Бемский, Дж. Парамагнитный резонанс в кремнии, облученном электронами / Дж. Бемский
Уоткинс, Дж. Спиновый резонанс в кремнии, облученном электронами / Дж. Уоткинс, Дж. Корбет, Р. Уолкер
Тайтл, Р. Обнаружение захвата носителей заряда в фотопроводнике методом парамагнитного резонанса / Р. Тайтл

ГРНТИ

29.19.31

ББК В379.233.3я43
Рубрики:
Полупроводники--Электронный парамагнитный резонанс (ЭПР)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Богомолова, Л. Д. \пер.\; Чепелева, И. В. \пер.\; Пенин, Н. А. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   Г4
   Э 45


    Электронно-зондовый микроанализ : пер. с англ. / пер.: С. Г. Конников, А. Ф. Сидорова ; ред. пер. И. Б. Боровский. - М. : Мир, 1974. - 260 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Electron Probe Microanalysis. - 1.89 р.
    Содержание:
Пул, Д. Аппаратура и экспериментальная техника рентгеновского микроанализа / Д. Пул, П. Мартин
Гольдстейн, Дж. Электронно-зондовый микроанализ в металлургии / Дж. Гольдстейн

ГРНТИ

31.19.03

ББК Г461.4

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Конников, С. Г. \пер.\; Сидорова, А. Ф. \пер.\; Боровский, И. Б. \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В34
   Э 45


    Электронная спектроскопия : пер. с англ. / К. Зигбан [и др.] ; ред. пер. И. Б. Боровский. - М. : Мир, 1971. - 493 с. : ил. - Библиогр. в тексте. - Пер. изд. : ESCA. Atomic, molecular and solid state structure studied by means of electron spectroscopy / K. Siegbahn, C. Nordling, F. Fahlman. - 2.83 р.

ГРНТИ

29.31.26

29.31.17

ББК В344.3 + Г215.3 + В344.16
Рубрики:
Спектроскопия--Методы--Теория

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Зигбан, Кай; Нордлинг, Карл; Фальман, А.; Боровский, Игорь Борисович \ред. пер.\; Siegbahn, K. ; Nordling, C. ; Fahlman, F.
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (2)}
Найти похожие

   В37
   Э 45


    Электронная микроскопия тонких кристаллов : пер. с англ. / П. Хирш, А. Хови [и др.] ; ред. пер. Л. М. Утевский. - М. : Мир, 1968. - 574 с. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. - Пер. изд. : Electron microscopy of thin crystals / P. B. Hirsh, A. Howie, R. B. Nicholson. - London, 1965. - 3.44 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В371.26 + В338.48
Рубрики:
Кристаллы--Микроскопия электронная
Микроскопы электронные--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Хирш, П.; Хови, А.; Николсон, Р.; Пэшли, Д.; Уэлан, М.; Утевский, Л. М. \ред. пер.\; Hirsh, P. B.; Howie, A. ; Nicholson, R. B.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В37
   Э 45


    Электронная микроскопия и прочность кристаллов : [сб. ст.] : пер. с англ. / пер.: Б. М. Бронфин, И. Л. Светлов ; ред. пер. Д. А. Петров. - М. : Металлургия, 1968. - 519 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - Пер. изд. : Electron microscopy and strength of crystals. - 3000 экз. - 2.15 р.

ГРНТИ

29.19.13

ББК В371.215 + В372.1 + В338.48
Рубрики:
Кристаллы--Свойства механические--Микроскопия электронная--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Бронфин, Б. М. \пер.\; Светлов, И. Л. \пер.\; Петров, Дмитрий Андреевич \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В37
   Э 45


    Электронная и ионная спектроскопия твердых тел : пер. с англ. / Д. Маан, В. Спайсер, А. Либиш ; ред. Л. Фирмэнс ; ред. пер. В. И. Раховский. - М. : Мир, 1981. - 467 с. : ил. - Библиогр. в конце разд. - Пер. изд. : Electron and ion spectroscopy of solids. - New-York. - 4000 экз. - 4.50 р.
Авт. указ. на обороте тит. л.

ГРНТИ

29.31.21

ББК В374
Рубрики:
Твердое тело--Спектроскопия

Афанасьев В. П. Электронная и ионная спектроскопия твердых тел
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Маан, Д.; Спайсер, В.; Либиш, А.; Фирмэнс, Люсиен \ред.\; Раховский, Вадим Израилевич \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

   З85
   Ц 61

    Цимринг, Шулим Ефимович.
    Введение в высокочастотную вакуумную электронику и физику электронных пучков : пер. с англ. / Ш. Е. Цимринг. - Н. Новгород : Ин-т приклад. физики РАН, 2012. - 575 с. - Библиогр.: с. 544-567 - Предм. указ.: с. 568-575. - Пер. изд. : Electron beams and microwave vacuum electronics / S. E. Tsimring. - 2007. - 250 экз. - ISBN 978-5-8048-0076-6 : 370.00 р.

ГРНТИ

29.35.45

29.35.39

ББК З851
Рубрики:
СВЧ-техника--Учебники и учебные пособия
СВЧ-электроника--Учебники и учебные пособия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Tsimring, S. E.
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (2)}
Найти похожие

   В33
   Х 70

    Хокс, Питер.
    Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина и А .М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. - М. : Мир, 1974. - 319 с. : ил. - Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). - Предм. указ. - Пер. изд. : Electron optics and electron microscopy / P. W. Hawkes. - 5 к. р.
    Содержание:
Пределы применимости светового микроскопа и электронный микроскоп
Электронные линзы
Электронный микроскоп
Растровая электронная микроскопия и исследование поверхностей
Применения

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.2 + В338.48

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Hawkes, P. W.; Стоянова, И. Г. \ред.\; Анаскин, И. Ф. \пер.\; Розенфельд, А. М. \пер.\; Hawkes, P. W.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

10.

   В38
   Х 35

    Хейденрайх, Р.
    Основы просвечивающей электронной микроскопии / Р. Хейденрайх ; пер. с англ. [и предисл.] В. М. Кардонского и А. Г. Хачатуряна. - М. : Мир, 1966. - 471 с. : рис., табл., фот. - Библиогр.: с. 466-468. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamentals of transmission electron microscopy / Robert D. Heidenreich. - New York, 1964. - 2.11 р.
    Содержание:
Идеальные, или гауссовы, изображения
Численные значения сечений рассеяния
Исследование тонких структур с деталями крупнее 10 Å
Волны и интерференция
Волновая механика и формирование изображения
Коллективное возбуждение и энергетические потери в твердых телах
Введение в дифракцию электронов
Интенсивность дифракции
Дифракционный контраст
Качество изображения и разрешение
Изображения отклоняющих полей
Электронно-зондовый микроанализ
Общие функции для интерференционных расчетов
Аберрация линз и фаза дефокусировки
Элементы кристаллографии
пример из динамической трехволновой теории
Определение вектора Бюргерса
Дифракционные эффекты в толстых кристаллах
Преимущественные ориентировки (текстуры)

ГРНТИ

29.15.01

29.15.03

ББК В383я7
Рубрики:
Микроскопия электронная

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Кардонский, В. М. \пер.\; Хачатурян, А. Г. \пер.\; Heidenreich, Robert D.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие