Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН (11)Труды сотрудников ИФ СО РАН (296)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=technology<.>)
Общее количество найденных документов : 55
Показаны документы с 1 по 20
1.

Большой англо-русский политехнический словарь/Под ред. М.В. Якимова. - 2002
2.

Галевский Г. В. Словарь по науке и технике (Английский. Немецкий. Русский)/Г.В. Галевский, Л.В. Мауэр , Н.С. Жуковский. - 2003
3.

Энциклопедия технологии полупроводниковых материалов. Электронная структура и свойства полупроводников/Пер. с англ. под ред. Э.П.Домашевской Т.1. - 2004
4.

Nanoscale characterisation of ferroelectric materials/Ed.: M. Alexe, A. Gruverman. - 2004
5.

Crystal Growth Technology/Eds. H. J. Scheel, T. Fukuda. - 2003
6.

Рит М. Наноконструирование в науке и технике. Введение в мир нанорасчета/М. Рит. - 2005
7.

The SQUID handbook/ed. J. Clarke, A. I. Braginski Vol. 1: Fundamentals and technology of SQUIDs and SQUID systems. - 2004
8.

International symposium(15th; June 25-29, 2007; Novosibirsk).Nanostructures: physics and technology/Semiconductor physics Institute, Ioffe Institute. - 2007
9.

Прескилл, Джон Квантовая информация и квантовые вычисления. Т. 1/пер. Т. С. Нечаева ; ред.: С. С. Епифанов, С. Г. Новокшонов
10.

Functional nanostructures/ed. S. Seal. - 2008
11.

Игнатьев Б. И. Англо-русский словарь по метрологии и технике точных измерений/Б. И. Игнатьев, М. Ф. Юдин ; под ред.: В. И. Кипаренко, Л. К. Исаева. - 1981
12.

International symposium on measurement technology and intelligent instruments(9;29 June -2 July 2009;Saint-Petersburg). Proceedings/International symposium on measurement technology and intelligent instruments (9 ; 29 June -2 July 2009 ; Saint-Petersburg) Vol. 1: Keynote papers. Sessions: General problems of measurement. Micro-, nano-measurements and metrology. Optical and X-Ray tomography and interferometry. - 2009
13.

International symposium on measurement technology and intelligent instruments(9;29 June -2 July 2009;Saint-Petersburg). Proceedings/International symposium on measurement technology and intelligent instruments (9 ; 29 June -2 July 2009 ; Saint-Petersburg) Vol. 2: Keynote papers. Sessions: Measurement for geometrical and mechanical quantities. Terahertz technologies for science, industry, medicine, biology. - 2009
14.

International symposium on measurement technology and intelligent instruments(9;29 June -2 July 2009;Saint-Petersburg). Proceedings/International symposium on measurement technology and intelligent instruments (9 ; 29 June -2 July 2009 ; Saint-Petersburg) Vol. 3: Keynote papers. Sessions: Novel measurement and diagnostic methods. - 2009
15.

International symposium on measurement technology and intelligent instruments(9;29 June -2 July 2009;Saint-Petersburg). Proceedings/International symposium on measurement technology and intelligent instruments (9 ; 29 June -2 July 2009 ; Saint-Petersburg) Vol. 4: Keynote papers. Sessions: Intelligent measuring instruments and systems for industry and transport. Measurements and metrology for the humanitarian fields. Metrology and characterization of materials. Education in measurement science. - 2009
16.

Handbook of nanoscience, engineering, and technology/[edited by] William A. Goddard III [et al.].. - 2007
17.

Технология тонких пленок. Т. 1. - 1977
18.

Технология тонких пленок. Т. 2. - 1977
19.

Nonlinear optics: materials and devices/International school of materials science and technology (July 1-14,1985 ; Erice, Sicily). - 1986
20.

Большой англо-русский политехнический словарь. Т. 2:M-Z
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)