Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Труды сотрудников ИФ СО РАН (7)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=tem<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   Ж
   Ф 94


    Фульц, Брент.
    Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов : пер. с англ. / Б. Фульц, Дж. Хау ; пер. В. И. Даниленко ; ред. пер. А. В. Мохова. - М. : Техносфера, 2011. - 903 с. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 805-820 - Предм. указ. - Пер. изд. : Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe. - Berlin; Heidelberg, 2005. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-291-5 : 1418.18 р.
    Содержание:
Дифракция и рентгеновский порошковый дифрактометр
TEM (Transmission Electron Microscopy) и его оптика
Рассеяние
Неупругое рассеяние электронов и спектроскопия
Дифракция от кристаллов
Электронная дифракция и кристаллография
Дифракционный контраст в изображениях TEM
Формы дифракционных линий
Функции Паттерсона и диффузное рассеяние
Изображения TEM высокого разрешения
Изображения сканирующей TEM высокого разрешения
Динамическая теория
ГРНТИ
ББК Ж3-1 + Г46 + В338.48 + Г512
Рубрики:
Микроскопия электронная просвечивающая--Наноструктуры

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс; Даниленко, В. И. \пер.\; Мохова, А. В. \ред. пер.\; Fultz, Brent; Howe, James
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)