Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИФ СО РАН (4)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=topography<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

   В3
   T75

    Topics in applied physics. - Berlin ; Heidelberg ; New York : Springer Verlag, 1973 - . - (Topics in applied physics / founded by H. K. V. Lotsch, ISSN 0303-4216).
   Vol. 47 / ред.: R. Behrisch, H. H. Andersen ; ed. S. Haykin. - Berlin ; Heidelberg ; New York : Springer-Verlag, 1981. - X, 281 p., 263 p., XIII p. - Bibliogr. - Sub. Ind. - Список томов серии. - ISBN 3-540-10521-2. - ISBN 0-387-10521-2 : 30.00 р. - DOI 10.1007/3-540-12386-5
Авт. указ. на c. XIII
Перевод заглавия: Нелинейные методы спектрального анализа (Cерия "Темы прикладной физики")
    Содержание:
Physical sputtering of single-element solids
Sputtering of alloys and compounds, electron and neutron sputtering, surface topography
Characteristics of sputtered particles, technical applications
   Перевод заглавия: Нелинейные методы спектрального анализа (Cерия "Темы прикладной физики")

ГРНТИ

29.19.16

ББК В371.26
Рубрики:
Sputtering (Physics)
Solids--Effect of radiation on.
Surfaces (Physics)--Effect of radiation on

Смотреть книгу
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Behrisch, Rainer \ред.\; Andersen, H.H. \ред.\; Haykin, Simon \ed.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В37
   Б86

    Боуэн, Д. К.
    Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : пер. с англ. / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; ред., пер. И. Л. Шульпина. - СПб. : Наука, 2002. - 274 с. : ил. - Библиогр.: с. 269-270.Пред.ук.с271-274. - Пер. изд. : High Resolution X-Ray Difractometry and Topography. - London, 1998. - 700 экз. - ISBN 5-02-024963-7 : 158.50 р.

29.19.04

47.29.39

ББК В371.23 + В361
Рубрики:
Материалы--Методы исследования
Кристаллы--Методы исследования

Смотреть книгу
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Таннер, Б. К.; Шульпина, И. Л. \ред., пер.\
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

Тематический навигатор

Другие библиотеки

Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН

Библиотека института биофизики

Библиотека института химии и химический технологии

Библиотека института вычислительного моделирования

Библиотека института леса

Библиотека СФУ

Краевая научная библиотека

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)