Поисковый запрос: (<.>R=29.03.31$<.>) |
Общее количество найденных документов : 22
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Шестаков Н. П. Автоматизированные измерения интенсивностей и фаз слабых световых потоков/Н. П. Шестаков ; науч. рук. В. Ф. Шабанов ; офиц. опп.: Н. Я. Шапарев, А. В. Сорокин. - 1998
|
2.
| Великанов Д. А. Высокочувствительные методы исследования магнитных свойств кристаллических и плёночных магнитных систем/Д. А. Великанов ; науч. конс. Г. С. Патрин ; офиц. опп.: В. В. Коледов, Ю. Б. Кудасов, В. М. Владимиров. - 2017
|
3.
| Иваненко А. А. Интерференционно-чувствительные фотоприемники и их применения/А. А. Иваненко ; науч. рук. В. Ф. Шабанов, Н. П. Шестаков ; офиц. опп. В. П. Кирьянов, А. В. Замков. - 2009
|
4.
| Александрова Г. А. Количественный анализ в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов в кремнии и железо-кремниевых структурах/Г. А. Александрова ; науч. рук. А. С. Паршин. - 2008
|
5.
| Компьютеры в оптических исследованиях/[Р. Баракат и др.] ; под ред. Б. Фридена ; пер. с англ. под. ред. [и с предисл.] С. А. Ахманова. - 1983
|
6.
| Евтихиева О. А. Лазерная рефрактография/О. А. Евтихиева, И. Л. Расковская, Б. С. Ринкевичюс ; ред. Б. С. Ринкевичюс. - 2008
|
7.
| Косырев Н. Н. Магнитооптический эллипсометрический комплекс для получения и исследования наноструктур в установке молекулярно-лучевой эпитаксии/Н. Н. Косырев ; науч. рук. С. Г. Овчинников ; офиц. опп.: П. Д. Ким, В. В. Слабко. - 2008
|
8.
| Свиташева С. Н. Метод эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов/С. Н. Свиташева ; ред. О. П. Пчеляков. - 2019
|
9.
| Крылов А. С. Обработка данных инфракрасной фурье-спектроскопии/А. С. Крылов, А. Н. Втюрин, Ю. В. Герасимова ; рец. И. Н. Флеров. - 2005
|
10.
| Оптико-физические измерения/Всесоюз. науч.-исслед. ин-т опт.-физ. измерений. - 1977
|
|
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Стандартный
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН