Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН (3)

Труды сотрудников ИФ СО РАН (137)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.31.26$<.>)

Общее количество найденных документов : 515
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

   В34
   Д 42

    Джоунс, Р.
    Голографическая и спекл-интерферометрия / Р. Джоунс, К. Уйкс ; пер. с англ. А. А. Колоколова [и др.] под ред. Г. В. Скроцкого. - М. : Мир, 1986. - 327 с. : ил. - Библиогр.: с. 315-320. - Пер. изд. : Holographic and speckle interferometry : a discussion of the theory, practice and application of the techniques. - 2600 экз. - 3.20 р.
    Содержание:
Основные сведения из оптики
Колебания и волны
Сложение волн
Теория преобразований Фурье
Лучевая (геометрическая) оптика
Дифракция
Голография
Спекл-эффект
Голографическая интерферометрия
Описание малых смещений поверхности
Анализ формирования голографической интерференционной картины в случае статических смещений поверхности
Измерение смещений поверхности
Расчет пространственного смещения полос в интерференционной картине
Измерение динамических смещений
Голографическая интерферометрия с повышенной чувствительностью
СПЕКЛ-ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ
Спекл-интерферометрия в плоскости изображения
Фоторегистрация несфокусированной спекл-структуры
Измерение динамических смещений
Факторы, ограничивающие возможности метода спекл-фотографии
Корреляционная спекл-интерферометрия
Факторы, ограничивающие возможности корреляционной спекл-интерферометрии с фоторегистрацией
Электронная корреляционная спекл-интерферометрия
Видеосистема
Пространственное разрешение видеосистемы и его влияние на результаты спекл корреляционных измерений
Оптимизация уровней светового потока в ЭСИ
Оптические схемы применяемых в ЭСИ интерферометров
Видеосистемы, применяемые в электронных спекл-интерферометрах
Измерение динамических смещений
Факторы, ограничивающие возможности ЭСИ
Определение формы поверхности методами голографической и спекл-интерферометрии
Двухдлинноволновый голографический метод получения контуров сечений поверхности
Ограничивающие факторы
Определение формы поверхности методом ЭСИ. Основы метода
Определение формы поверхности методом ЭСИ с применением стандартных оптических элементов
Контроль образца сложной формы путем сравнения с эталонным волновым фронтом, полученным с помощью голограммы
Факторы, ограничивающие определение различных форм методом ЭСИ
Использование двухдлинноволновой ЭСИ для прямого сравнения образцов
Измерение формы с использованием проектирования интерференционных полос
Экспериментальные устройства и методы
Некоторые факторы, влияющие на выбор экспериментального метода
Уровень интенсивности света
Механические устройства
Практическая голография
Устройство и использование интерферометра
Применения
Неразрушающий контроль
Экспериментальное изучение технических устройств
Количественные измерения статических смещений поверхности и механических напряжений
Экспериментальный анализ колебаний
Проверка компонентов и контроль качества
Визуализация потока текучей среды
Комплексные числа
Векторы
Фурье-преобразование
Чувствительность к наклону спекл-фотографии с двойной экспозицией, в которой для освещения предмета используется двойной пучок
Коэффициент корреляции в спекл-корреляционной интерферометрии нарушение корреляций спеклов

ГРНТИ

29.31.26

ББК В343.4
Рубрики:
Голография--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Уайкс, К.; Колоколов, А. А. \пер.\; Соломахо, Г. И. \пер.\; Стрекалов, В. Н. \пер.\; Скроцкий, Георгий Викторович \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В34
   В 39

    Ветров, Степан Яковлевич.
    Особенности колебательных и электронных спектров несоразмерных структур : автореферат дис. на соиск. уч. степени канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / С. Я. Ветров ; офиц. опп.: Л. Н. Овандер, А. Ф. Садреев ; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского, вед. орг. Физ.-тех. ин-т им. А.Ф. Иоффе. - Красноярск, 1981. - 21 с. - Библиогр. - 100 экз. -

ГРНТИ

29.31.26

29.33.35

ББК В344.337я031
Рубрики:
Сегнетоэлектрики--Фазовые переходы--Методы исследования--Комбинационное рассеяние света

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Овандер, Л. Н. \офиц. опп.\; Садреев, Алмаз Фаттахович \офиц. опп.\; Академия наук СССР; Сибирское отделение АН СССРИнститут физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения АН СССР; Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе АН СССР
Экземпляры всего: 1
ДС (1)
Свободны: ДС (1)}
Найти похожие

   В34
   Д 46


    Диодная лазерная спектроскопия : [сб. статей] / Акад. наук СССР, Отд-ние общ. физики и астрономии. Науч. совет по спектроскопии атомов и молекул. - М. : [б. и.], 1990. - 247 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 200 экз. - 4.20 р.

ГРНТИ

29.31.26

ББК В344.3я431
Рубрики:
Спектроскопия лазерная--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Академия наук СССР; Отделение общей физики и астрономии АН СССР; Научный совет по спектроскопии атомов и молекул АН СССР; Общемосковский семинар по диодной лазерной спектроскопии
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В34
   С 60

    Солодовников, Станислав Пантелеймонович.
    Сигналы из микромира. Магнитный резонанс / С. П. Солодовников ; Акад. наук СССР. - М. : Изд-во АН СССР, 1963. - 87 с. : ил. - (Научно-популярная серия). - 30000 экз. - 0.12 р.

ГРНТИ

29.31.26

ББК В344.5я91
Рубрики:
Радиоспектроскопия--Научно-популярная литература

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Академия наук СССР
Экземпляры всего: 1
Музей (1)
Свободны: Музей (1)}
Найти похожие

   В33
   Г 90

    Груздев, Павел Федорович.
    Вероятности переходов и радиационные времена жизни уровней атомов и ионов / П. Ф. Груздев. - М. : Энергоатомиздат, 1990. - 223 с. : ил. - Библиогр.: с. 217-221. - ISBN 5-283-03893-9 : 3.60 р.
На кор. авт. не указан

ГРНТИ

29.31.26

29.27.49

ББК В333.41 + В344.1
Рубрики:
Плазма--Спектроскопия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В34
   С 24

    Свентицкий, Николай Семенович.
    Визуальные методы эмиссионного спектрального анализа / Н. С. Свентицкий ; Акад. наук СССР, Комиссия по спектроскопии. - М. : Гос. изд-во физ.-мат. лит., 1961. - 314 с. - (Физика и техника спектрального анализа. Библиотека инженера). - Библиогр.: с. 260-277. - 11000 экз. - 1.50 р.
    Содержание:
Аппаратура. Стилоскопы и стилометры
Аппаратура. источники света
Наблюдение спектров. Качественный анализ. Полуколичественный анализ
Полуколичественный анализ сталей
Полуколичественный анализ цветных сплавов, растворов, порошков и газовых смесей
Визуальный количественный спектральный анализ стилометром
Количественный анализ стилоскопом
Чувствительные линии в видимой области спектра, расположенные по элементам
Чувствительные линии элементов, расположенные по длинам волн
Длины волн спектральных линий железа
Длины волн спектральных линий меди
Длины волн спектральных линий алюминия
Длины волн спектральных линий цинка
Последние линии
Искровой спектр газов воздуха
Чувствительные канты молекулярных спектров

ГРНТИ

29.31.17

29.31.26

ББК В344.322 + Г461.31 + К204.013
Рубрики:
Атомы--Спектры эмиссионные
Спектральный анализ--Методы

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Академия наук СССР; Комиссия по спектроскопии АН СССР
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В37
   Ф 50


    Физика полупроводников и радиоспектроскопия ионных кристаллов / Урал. гос. ун-т ; ред. А. Н. Левков. - Свердловск : УрГУ, 1969. - 186 с. : рис., табл. - (Ученые записки ; № 118. Серия физическая ; вып. 7). - 0.30 р.

ГРНТИ

29.31.26

29.19.31

ББК В379я54 + В344.15я54 + В371.231я54
Рубрики:
Кристаллы ионные--Спектроскопия--Сборники
Полупроводники--Физика--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Левков, А. Н. \ред.\; Уральский государственный университет им. А.М. Горького
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   Ж
   С 32

    Сергеев, Алексей Георгиевич.
    Нанометрология / А. Г. Сергеев. - М. : Логос, 2011. - 413 с. ; 22 см. - Библиогр.: с. 409-413. - 1000 экз. - ISBN 978-5-98704-494-0 : 768.00 р.

ГРНТИ

90.27

29.19.22

29.31.26

ББК Ж10 + В371.26в642
Рубрики:
Наноизмерения--Микроскопия сканирующая зондовая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

   Ж
   Ф 94

    Фульц, Брент.
    Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов : пер. с англ. / Б. Фульц, Дж. Хау ; пер. В. И. Даниленко ; ред. пер. А. В. Мохова. - М. : Техносфера, 2011. - 903 с. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 805-820 - Предм. указ. - Пер. изд. : Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe. - Berlin; Heidelberg, 2005. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-291-5 : 1418.18 р.
    Содержание:
Дифракция и рентгеновский порошковый дифрактометр
TEM (Transmission Electron Microscopy) и его оптика
Рассеяние
Неупругое рассеяние электронов и спектроскопия
Дифракция от кристаллов
Электронная дифракция и кристаллография
Дифракционный контраст в изображениях TEM
Формы дифракционных линий
Функции Паттерсона и диффузное рассеяние
Изображения TEM высокого разрешения
Изображения сканирующей TEM высокого разрешения
Динамическая теория

ГРНТИ

ББК Ж3-1 + Г46 + В338.48 + Г512
Рубрики:
Микроскопия электронная просвечивающая--Наноструктуры

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс; Даниленко, В. И. \пер.\; Мохова, А. В. \ред. пер.\; Fultz, Brent; Howe, James
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

10.

   В34
   Д 75

    Дробышев, Анатолий Иванович.
    Технология атомно-эмиссионного спектрографического анализа : учеб. пособие / А.И. Дробышев ; С.-Петерб. гос. ун-т. - СПб. : СПбГУ, 1999. - 94 с. : ил. - ISBN 5-288-02063-9 : 22.00 р.
Библиогр.: с. 92

ГРНТИ

29.31.26

ББК В344.322я73 + Г461.311я73
Рубрики:
Спектральный анализ эмиссионный--Учебники и учебные пособия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Санкт-Петербургский государственный университет
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие