Поисковый запрос: (<.>R=29.31.29$<.>) |
Общее количество найденных документов : 111
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Эллипсометрия: теория, методы, приложения/Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. - 1987
|
2.
| Эллипсометрия: теория, методы, приложения/Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. - 1991
|
3.
| Эллипсометрия в науке и технике/Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников Вып. 2. - 1990
|
4.
| Эллипсометрия в науке и технике/Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. - 1987
|
5.
| Урывский Ю. И. Эллипсометрия : основы метода/Ю. И. Урывский. - 1971
|
6.
| Эндрюс К. Электронограммы и их интерпретация/К. Эндрюс, Д. Дайсон, С. Киоун ; пер. М. П. Усиков ; ред. пер. Л. Г. Орлов. - 1971
|
7.
| Лукьянович В. М. Электронная микроскопия в физико-химических исследованиях. Методика и применение/В. М. Лукьянович ; ред. К. В. Чмутов. - 1960
|
8.
| Электронная микроскопия/ред. А. А. Лебедев. - 1954
|
9.
| Крылов А. С. Эксплуатация фурье-раман спектрометров FRA 106 и RFS 100/А. С. Крылов, А. Н. Втюрин, Ю. В. Герасимова ; рец. И. Н. Флеров. - 2005
|
10.
| Шпрокхоф Г. Эксперимент по курсу элементарной физики/пер. с нем. А. П. Ломана, под ред. проф. П. А. Знаменского и проф. П. А. Рымкевича Ч. 6: Геометрическая оптика. - 1960
|
|
|