Поисковый запрос: (<.>R=29.35$<.>) |
Общее количество найденных документов : 290
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Smit J. Ferrites: physical properties of ferrimagnetic oxides in relation to their technical applications/by J. Smit and H. P. J. Wijn. [Translated by G. E. Luton]. - 1959
|
2.
| Handbuch der physik. Band 21:Elektronen-emission gasentladungen I. - 1956
|
3.
| Handbuch der physik. Band 22:Gasentladungen II. - 1956
|
4.
| Metal based thin films for electronics/ed. K. Wetzig, C. M. Schneider. - 2006
|
5.
| Powder diffraction file Inorganic phases/JCPDS Int. Centre for Diffract. Data. - 1981
|
6.
| International symposium on measurement technology and intelligent instruments(9;29 June -2 July 2009;Saint-Petersburg). Proceedings/International symposium on measurement technology and intelligent instruments (9 ; 29 June -2 July 2009 ; Saint-Petersburg) Vol. 4: Keynote papers. Sessions: Intelligent measuring instruments and systems for industry and transport. Measurements and metrology for the humanitarian fields. Metrology and characterization of materials. Education in measurement science. - 2009
|
7.
| International symposium on measurement technology and intelligent instruments(9;29 June -2 July 2009;Saint-Petersburg). Proceedings/International symposium on measurement technology and intelligent instruments (9 ; 29 June -2 July 2009 ; Saint-Petersburg) Vol. 2: Keynote papers. Sessions: Measurement for geometrical and mechanical quantities. Terahertz technologies for science, industry, medicine, biology. - 2009
|
8.
| International symposium on measurement technology and intelligent instruments(9;29 June -2 July 2009;Saint-Petersburg). Proceedings/International symposium on measurement technology and intelligent instruments (9 ; 29 June -2 July 2009 ; Saint-Petersburg) Vol. 1: Keynote papers. Sessions: General problems of measurement. Micro-, nano-measurements and metrology. Optical and X-Ray tomography and interferometry. - 2009
|
9.
| International symposium on measurement technology and intelligent instruments(9;29 June -2 July 2009;Saint-Petersburg). Proceedings/International symposium on measurement technology and intelligent instruments (9 ; 29 June -2 July 2009 ; Saint-Petersburg) Vol. 3: Keynote papers. Sessions: Novel measurement and diagnostic methods. - 2009
|
10.
| Lewis R. A. Terahertz physics/R. A. Lewis. - 2012
|
11.
| Topics in applied physics. Vol. 34:Nonlinear methods of spectral analysis/ed. S. Haykin. - 1983
|
12.
| Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11; 1979 ; окт. ; 16-18; Таллин).XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии/Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор" Т. 1: Физика. - 1979
|
13.
| Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11; 1979 ; окт. ; 16-18; Таллин).XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии/Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор" Т. 3. - 1979
|
14.
| Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11; 1979 ; окт. ; 16-18; Таллин).XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии/Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор" Т. 2: Биология. - 1979
|
15.
| XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'99/Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - 1999
|
16.
| Российская конференция по электронной микроскопии(17; 1998).XVII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 15 июня - 18 июня 1998 г./Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов. - 1998
|
17.
| XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел/Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - 2011
|
18.
| Российская конференция по электронной микроскопии(18; 2000).XVIII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 5 июня-8 июля 1998 г./Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектр. и особочист. матер., Ин-т кристаллографии. - 2000
|
19.
| XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел/Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии им. А.В. Шубникова. - 2013
|
20.
| Автоволновые процессы в нелинейных средах с диффузией/Е. Ф. Мищенко, В. А. Садовничий [и др.]. - 2010
|
|
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Стандартный
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН