Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН
Труды сотрудников ИФ СО РАН
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)
Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-37 
1.
   В33
   С 91

    Сушкин, Н. Г.
    Электронный микроскоп / Н. Г. Сушкин. - М. ; Л. : Гостехиздат, 1949. - 276 с. : рис. - Библиогр.: с. 274-276. - 10000 экз. - Б. ц.
Пометки владельца коллекции: Цомакион 356.
ГРНТИ
29.35.43
ББК В338.48
Рубрики:
Микроскопы электронные

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
СЦ (1), Музей (1)
Свободны: СЦ (1), Музей (1)}
Найти похожие
2.
   В34
   С 67

    Соул, Х.
    Электроннооптическое фотографирование / Х. Соул ; сокр.пер. с англ. под ред. В. К. Базарова и И. Ф. Усольцева. - М. : Воениздат, 1972. - 404 с. - Пер. изд. : Electrooptical photography at low illumination levels / Harold V. Soul. - Б. ц.
ГРНТИ
29.35.43
ББК В338.4
Рубрики:
Микроскопия электронная

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Базаров, В. К. \пер.\; Усольцев, И. Ф. \пер.\; Soul, Harold V.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
3.
   В37
   Э 45

   
    Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки : справ. руководство / под ред. В. М. Косевича и Л. С. Палатника. - М. : Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1976. - 223 с. : фот. - Библиогр.: 153 назв. - 6000 экз. - 1.12 р.
    Содержание:
Вопросы методики расчета дифракционного контраста
Изображение единичных дислокаций
Изображение групп дислокаций
Дислокационные сетки
Дислокации на межфазных и межкристаллитных границах
Особые дислокационные конфигурации
Дислокационные петли
Изображение дефектов упаковки
Частичные дислокации
Уточнение индицирования электронограмм и определение по кикучи-линиям ориентировки кристаллов
ГРНТИ
29.19.11
29.35.43
ББК В371.231.3я22 + В371.214.4я22


Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Косевич, Вадим Маркович \ред.\; Палатник, Лев Самойлович \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
4.
   В33
   Х 70

    Хокс, Питер.
    Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина и А .М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. - М. : Мир, 1974. - 319 с. : ил. - Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). - Предм. указ. - Пер. изд. : Electron optics and electron microscopy / P. W. Hawkes. - 5 к. р.
    Содержание:
Пределы применимости светового микроскопа и электронный микроскоп
Электронные линзы
Электронный микроскоп
Растровая электронная микроскопия и исследование поверхностей
Применения
ГРНТИ
29.35.43
ББК В338.2 + В338.48


Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Hawkes, P. W.; Стоянова, И. Г. \ред.\; Анаскин, И. Ф. \пер.\; Розенфельд, А. М. \пер.\; Hawkes, P. W.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
5.
   В37
   Э 45

   
    Электронная микроскопия тонких кристаллов : пер. с англ. / П. Хирш, А. Хови [и др.] ; ред. пер. Л. М. Утевский. - М. : Мир, 1968. - 574 с. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. - Пер. изд. : Electron microscopy of thin crystals / P. B. Hirsh, A. Howie, R. B. Nicholson. - London, 1965. - 3.44 р.
ГРНТИ
29.35.43
ББК В371.26 + В338.48
Рубрики:
Кристаллы--Микроскопия электронная
   Микроскопы электронные--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Хирш, П.; Хови, А.; Николсон, Р.; Пэшли, Д.; Уэлан, М.; Утевский, Л. М. \ред. пер.\; Hirsh, P. B.; Howie, A. ; Nicholson, R. B.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
6.
   В33
   Л 42

    Лейзеганг, З.
    Электронная микроскопия / З. Лейзеганг ; пер. с нем.Г. В. Дер-Шварц. - М. : Изд-во иностр. лит., 1960. - 240 с. - Библиогр.: с. 231-238. - Пер. изд. : Elektronenmikroskope : handbuch der physik / S. Leisegandg. - Berlin, 1956. - 1.21 р.
ГРНТИ
29.35.43
ББК В338.4
Рубрики:
Микроскопия электронная

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Дер-Шварц, Г. В. \пер.\; Leisegandg, S.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
7.
   В33
   О-92

    Охонин, В. А.
    Физические основы оптической микроскопии с разрешением деталей, много меньших длины волны [Препринт] : препринт. № 65Б / В. А. Охонин ; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - Красноярск : ИФ СО АН СССР, 1987. - 16 с. - Библиогр.: 2 назв. - 150 экз.
ДСП
ГРНТИ
29.35.43
ББК В338.48


Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Академия наук СССР; Сибирское отделение АН СССР; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения АН СССР
Экземпляры всего: 2
Препр. (2)
Свободны: Препр. (2)}
Найти похожие
8.
   В33
   С 82

    Стоянова, Инна Григорьевна.
    Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии / И. Г. Стоянова, И. Ф. Анаскин ; Акад. наук СССР, Науч. совет по проблемам биофизики. - М. : Наука, 1972. - 371 с. : граф., рис., табл. - Загл. на корешке : Физические основы методов электронной микроскопии. - Библиогр.: с. 357-363 (281 назв.). - Предм. указ.: с. 364-367. - 2000 экз. - 1.70 р.
ГРНТИ
29.35.43
ББК В338.48
Рубрики:
Микроскопия электронная просвечивающая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Анаскин, Иван Филлипович; Академия наук СССРНаучный совет по проблемам биофизики АН СССР
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
9.
   В33
   Ф 83

    Франсон, Морис.
    Фазово-контрастный и интерференционный микроскопы / М. Франсон ; пер. с фр. М. А. Мазинг, под ред. Г. Г. Слюсарева. - М. : Гос. изд-во физ.-мат. лит., 1960. - 180 с. : граф., фот., рис. + 1 вкл. л. цв. ил. - Библиогр.: с. 166-180. - Пер. изд. : Le microscope à contraste de phase et le microscope interférentiel / Maurice Françon. - 1954. - 6.45 р.
ГРНТИ
29.35.43
ББК В338.4
Рубрики:
Микроскопы электронные--Физические основы

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Мазинг, М. А. \пер.\; Слюсарев, Г. Г. \ред.\; Françon, Maurice
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
10.
   В33
   Т 38

   
    Техника электронной микроскопии : пер. с англ. / ред. Д. Кэй ; пер.: С. Б. Стефанов, А. П. Захаров ; ред. пер. В. М. Лукьянович. - М. : Мир, 1965. - 406 с. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. - Пер. изд. : Techniques for electron microscopy / ed. Desmond Kay. - Oxford, 1961. - 1.80 р.
ГРНТИ
29.35.43
ББК В338.48
Рубрики:
Микроскопия электронная--Методы--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Кэй, Д. \ред.\; Стефанов, С. Б. \пер.\; Захаров, А. П. \пер.\; Лукьянович, Всеволод Михайлович \ред. пер.\; Kay Desmond, ed.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-37 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор

Другие библиотеки

Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)