Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)

Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-37

   В33
   Р 76


    XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'99 : тез. докл. / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - Черноголовка : Богородский печатник, 1999. - 145 с. - Библиогр. в конце докл. - Авт. указ.: с. 142-145. - ISBN 5-89589-010-5 : 15.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

29.19.19

ББК В338.4я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (11 ; 1999 ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   Р 76


    XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2011. - + 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Библиогр. в конце ст. - Алф. указ.: с. 276-279. - 220 экз. - ISBN 978-5-89589-054-7 : 90 р.
    Содержание:
Приборы и электронная оптика
Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава
Сканирующая зондовая микроскопия
Наноструктуры и нанотехнологии
Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике
Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии
Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии

ГРНТИ

29.31.21

29.35.43

29.31.26

ББК В338.48я431 + В374я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники
Твердое тело--Методы исследования--Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (17 ; 2011 ; 30 мая-2 июня ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (2)}
Найти похожие

   В33
   Р 76


    XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии им. А.В. Шубникова. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2013. - 518 с. ; 21 см. - Библиогр. в конце ст. - Алф. указ.: с. 276-279. - ISBN 978-5-89589-065-3 : 210.00 р.

ГРНТИ

29.31.21

29.35.43

29.31.26

ББК В338.48я431 + В374я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники
Твердое тело--Методы исследования--Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (18 ; 2013 ; 3-7 июня ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   В 85

    Всесоюзная конференция по электронной микроскопии (11 ; 1979 ; окт. ; 16-18 ; Таллин).
    XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 1. Физика / Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор" ; ред. В. Н. Баранов [и др.]. - М. : Наука, 1979. - 336 с. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 324-334. - 900 экз. - 1.40 р.
    Содержание:
Электронная оптика и приборостроение
Микродифракция и структурный анализ в электронной микроскопии
Методы электронно-зондовых исследований
Тонкие пленки, поверхностные свойства и кристаллизация
Дифракционный контраст
Металлы и сплавы
Минералы
Полимеры, коллоидные сисетмы, аэрозоли

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338я431 + В371.215я431
Рубрики:
Микроскопия электронная--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Баранов, В. Н. \ред.\; Смирнова, Р. С. \ред.\; Стельмащук, В. Я. \ред.\; Орлова, Е. В. \ред.\; Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР"Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338я431
Рубрики:
Микроскопия электронная--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Баранов, В. Н. \ред.\; Смирнова, Р. С. \ред.\; Стельмащук, В. Я. \ред.\; Орлова, Е. В. \ред.\; Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР"Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   В 85

    Всесоюзная конференция по электронной микроскопии (11 ; 1979 ; окт. ; 16-18 ; Таллин).
    XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : 16-18 окт. 1979 г., г. Таллин : тезисы докл. Т. 3 / Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор". - М. : [б. и.], 1979. - 172 с. - Библиогр. в конце докл. - 800 экз. - 1.15 р.
На рус. и англ. яз.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4я431

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР; "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   Д 50


    Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения / В. В. Болдырев [и др.] ; отв. ред. Г. М. Кулипанов ; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т биофизики , Ин-т химии твердого тела и перераб. минерал. сырья, Ин-т ядер. физики. - Новосибирск : Наука, Сиб. отд-ние, 1989. - 143 с. - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 141-143. - ISBN 5-02-028690-7 : 2.10 р.

ГРНТИ

29.19.19

29.35.43

ББК В338 + В371.21 + Г461.4
Рубрики:
Кристаллы--Структура--Методы исследования--Рентгеноструктурный анализ
Микроскопия электронная просвечивающая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Болдырев, Владимир Вячеславович; Ляхов, Н. З.; Толочко, Б. П.; Кулипанов, Г. М. \ред.\; Академия наук СССР; Сибирское отделение АН СССР; Институт биофизики Сибирского отделения РАН; Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья Сибирского отделения АН СССРИнститут ядерной физики Сибирского отделения АН СССР
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   И 91


    Источники заряженных частиц с плазменным эмиттером / Рос. акад. наук. Урал. отд-ние. Ин-т электрофизики, Сиб. отд-ние. Ин-т сильноточ. электроники ; [отв. ред. П. М. Щанин]. - Екатеринбург : Наука, 1993. - 149 с. : ил. - Парал. тит. л. на англ. яз. - Библиогр.: с.144-146. - ISBN 5-7691-0381-7 : 2000.00 р.
    Содержание:
Физика электронных источников с высокой яркостью пучка на основе отражательного разряда с полым катодом
Другие авторы: Бурдовицин Б. А., Галанский В. Л., Груздев В. А., Осипов И. В., Ремпе Н. Г.
Электронные источники с плазменными катодами для получения пучков большого сечения
Другие авторы: Гаврилов Н. В., Гушенец В. И., Коваль Н. Н., Окс Е. М., Толкачев В. С., Щанин П. М.
Источники ионов технологического назначения на основе разрядов с холодными катодами
Другие авторы: Гаврилов Н. В., Окс Е. М., Юшков Г. Ю., Мартенс В. Я., Семенов А. П., Шубин О. А.
Теоретические аспекты формирования разрядов низкого давления для плазменной эмиссионной электроники
Другие авторы: Крейндель М. Ю., Литвинов Е. А., Никулин С. П., Садовская Е. Ю.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.411

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Щанин, П. М. \отв. ред.\; Груздев, В. А. ; Осипов, И. В. ; Ремпе, Н. Г. ; Коваль, Н. Н. ; Окс, Ефим Михайлович; Толкачев, В. С. ; Щанин, П. М. ; Юшков, Г. Ю. ; Мартенс, В. Я. ; Семенов, А. П. ; Шубин, О. А. ; Никулин, С. П.; Садовская, Е. Ю.; Российская академия наук; Уральское отделение АН СССР; Институт электрофизики Уральского отделения РАН; Сибирское отделение РАН; Институт сильноточной электроники Сибирского отделения РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   Л 42

    Лейзеганг, З.
    Электронная микроскопия / З. Лейзеганг ; пер. с нем.Г. В. Дер-Шварц. - М. : Изд-во иностр. лит., 1960. - 240 с. - Библиогр.: с. 231-238. - Пер. изд. : Elektronenmikroskope : handbuch der physik / S. Leisegandg. - Berlin, 1956. - 1.21 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4
Рубрики:
Микроскопия электронная

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Дер-Шварц, Г. В. \пер.\; Leisegandg, S.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

10.

   В32
   М13

    Маев, Роман Григорьевич.
    Акустическая микроскопия / Р. Г. Маев. - М. : ТОРУС ПРЕСС, 2005. - 383 с. : ил. - Библиогр.: с. 326-379. - ISBN 5-94588-031-0 : 150.00 р.
Предисл. и оглав. на англ. и рус. яз.

ГРНТИ

29.37.23

29.35.43

ББК В321 + В341.9
Рубрики:
Микроскопия акустическая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие