Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)
Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-37 
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка: ИПТМ РАН, 2013
Колич.характеристики :518 с. ; 21 см
Коллективы : Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (18; 2013 ; 3-7 июня; Черноголовка)
Примечания : Библиогр. в конце ст.Алф. указ.: с. 276-279
ISBN, Цена 978-5-89589-065-3:
ГРНТИ : 29.31.21 + 29.35.43 + 29.31.26
ББК : В338.48я431 + В374я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Твердое тело-- Методы исследования-- Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Заглавие : Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ.
Выходные данные : М.: БИНОМ. Лаб. знаний, 2013
Колич.характеристики :582 с.: ил. + 25 см
Перевод издания: Weili Zhou, ed. Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications/ Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. -2006
Примечания : Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8
ISBN, Цена 978-5-9963-1110-1: 1320.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 29.19.22
ББК : В338.48 + Ж36-1с + Ж607с
Предметные рубрики: Наноструктуры-- Исследование-- Методы
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Применение-- Нанотехнологии
Содержание : Основы растровой электронной микроскопии
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Content,
Содержание,
Глава 1
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка: ИПТМ РАН, 2011
Колич.характеристики : + 1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Коллективы : Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (17; 2011 ; 30 мая-2 июня; Черноголовка)
Примечания : Библиогр. в конце ст.Алф. указ.: с. 276-279
ISBN, Цена 978-5-89589-054-7:
ГРНТИ : 29.31.21 + 29.35.43 + 29.31.26
ББК : В338.48я431 + В374я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Твердое тело-- Методы исследования-- Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Содержание : Приборы и электронная оптика ; Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава ; Сканирующая зондовая микроскопия ; Наноструктуры и нанотехнологии ; Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике ; Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии ; Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 24
Автор(ы) : Свищев, Георгий Михайлович
Заглавие : Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки
Выходные данные : М.: Физматлит, 2011
Колич.характеристики :120 с. + 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 117-120
ISBN, Цена 978-5-9221-1320-5: 198.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.38
Предметные рубрики: Микроскопия электронная сканирующая-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 74
Заглавие : Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Научный мир, 2011
Колич.характеристики :711 с.: ил.; 27 см.
Коллективы : Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники
Перевод издания: Handbook of microscopy for nanotechnology. -Boston, 2005
Примечания : Библиогр. в конце разд. - На корешке авт.: Нан Яо, Чжун Лин Ван
ISBN, Цена 978-5-91522-232-7:
ГРНТИ : 81.13.13 + 29.35.43
ББК : В338.48я22 + Ж6-1в672я22
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение-- Наноуровень
Содержание : Оптическая микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, ионная микроскопия и нанопроизводство ; Электронная микроскопия
Экземпляры :ЧЗ(1)
Свободны : ЧЗ(1)
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/П 38
Автор(ы) : Плескова, Светлана Николаевна
Заглавие : Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях : учебное пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2011
Колич.характеристики :183 с
Примечания : Библиогр.: с. 173-183
ISBN, Цена 978-5-91559-108-9: 550.00 р.
ГРНТИ : 34.05 + 29.35.43
ББК : В338.48 + Г461.31
Предметные рубрики: Микроскопия сканирующая зондовая-- Методы-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
7.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : В33/С 42
Автор(ы) : Криштал, Михаил Михайлович, Ясников, Игорь Станиславович, Полунин, Виктор Иванович, Филатов, Анатолий Михайлович, Ульяненков, Александр Георгиевич
Заглавие : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Техносфера, 2009
Колич.характеристики :206 с
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 55-56 (10 назв.).
ISBN, Цена 978-5-94836-200-7: 330.31 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 31.19
ББК : В338.38я73 + Ж3-1с5я73
Предметные рубрики: Твердое тело-- Методы исследования-- Учебники и учебные пособия
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие
8.

Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : В33/С38
Автор(ы) : Синдо, Дайзуке, Оикава, Тецуо
Заглавие : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Выходные данные : М.: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :253 с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Перевод издания: Shindo D. Analytical Electron Microscopy for Materials Science/ D. Shindo, T. Oikawa
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 5-94836-064-4 :
ГРНТИ : 29.31.26 + 29.31.29 + 29.35.43 + 81.09.03
ББК : В338.48 + Ж3-1с + В344
Предметные рубрики: Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В32/М13
Автор(ы) : Маев, Роман Григорьевич
Заглавие : Акустическая микроскопия
Выходные данные : М.: ТОРУС ПРЕСС, 2005
Колич.характеристики :383 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 326-379. - Предисл. и оглав. на англ. и рус. яз.
ISBN, Цена 5-94588-031-0: 150.00 р.
ГРНТИ : 29.37.23 + 29.35.43
ББК : В321 + В341.9
Предметные рубрики: Микроскопия акустическая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVIII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 5 июня-8 июля 1998 г. : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка, 2000
Колич.характеристики :338 с
Коллективы : Российская конференция по электронной микроскопии(18;2000), Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Примечания : Имен. указ.
ISBN, Цена 5-89589-020-2: 76.80 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-37 
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)