Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)

Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-37

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Д 50
Автор(ы) : Болдырев, Владимир Вячеславович, Ляхов Н. З., Толочко Б. П.
Заглавие : Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения
Выходные данные : Новосибирск: Наука, Сиб. отд-ние, 1989
Колич.характеристики :143 с
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт биофизики Сибирского отделения РАН, Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья Сибирского отделения АН СССР, Институт ядерной физики Сибирского отделения АН СССР
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 141-143
ISBN, Цена 5-02-028690-7: 2.10 р.
ГРНТИ : 29.19.19 + 29.35.43
ББК : В338 + В371.21 + Г461.4
Предметные рубрики: Кристаллы-- Структура-- Методы исследования-- Рентгеноструктурный анализ
Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/П 38
Автор(ы) : Плескова, Светлана Николаевна
Заглавие : Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях : учебное пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2011
Колич.характеристики :183 с
Примечания : Библиогр.: с. 173-183
ISBN, Цена 978-5-91559-108-9: 550.00 р.
ГРНТИ : 34.05 + 29.35.43
ББК : В338.48 + Г461.31
Предметные рубрики: Микроскопия сканирующая зондовая-- Методы-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 74
Заглавие : Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Научный мир, 2011
Колич.характеристики :711 с.: ил.; 27 см.
Коллективы : Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники
Перевод издания: Handbook of microscopy for nanotechnology. -Boston, 2005
Примечания : Библиогр. в конце разд. - На корешке авт.: Нан Яо, Чжун Лин Ван
ISBN, Цена 978-5-91522-232-7:
ГРНТИ : 81.13.13 + 29.35.43
ББК : В338.48я22 + Ж6-1в672я22
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение-- Наноуровень
Содержание : Оптическая микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, ионная микроскопия и нанопроизводство ; Электронная микроскопия
Экземпляры :ЧЗ(1)
Свободны : ЧЗ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/И 91
Заглавие : Источники заряженных частиц с плазменным эмиттером
Выходные данные : Екатеринбург: Наука, 1993
Колич.характеристики :149 с.: ил.
Коллективы : Российская академия наук, Уральское отделение АН СССР, Институт электрофизики Уральского отделения РАН, Сибирское отделение РАН, Институт сильноточной электроники Сибирского отделения РАН
Примечания : Парал. тит. л. на англ. яз. - Библиогр.: с.144-146
ISBN, Цена 5-7691-0381-7:
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.411
Содержание : Физика электронных источников с высокой яркостью пучка на основе отражательного разряда с полым катодом , Б. А. Бурдовицин, В. Л. Галанский; Электронные источники с плазменными катодами для получения пучков большого сечения , Н. В. Гаврилов, В. И. Гушенец; Источники ионов технологического назначения на основе разрядов с холодными катодами , Н. В. Гаврилов, Е. М. Окс; Теоретические аспекты формирования разрядов низкого давления для плазменной эмиссионной электроники , М. Ю. Крейндель, Е. А. Литвинов
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 1 : Физика
Выходные данные : М.: Наука, 1979
Колич.характеристики :336 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 324-334 :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338я431 + В371.215я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Сборники
Содержание : Электронная оптика и приборостроение ; Микродифракция и структурный анализ в электронной микроскопии ; Методы электронно-зондовых исследований ; Тонкие пленки, поверхностные свойства и кристаллизация ; Дифракционный контраст ; Металлы и сплавы ; Минералы ; Полимеры, коллоидные сисетмы, аэрозоли
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 24
Автор(ы) : Свищев, Георгий Михайлович
Заглавие : Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки
Выходные данные : М.: Физматлит, 2011
Колич.характеристики :120 с. + 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 117-120
ISBN, Цена 978-5-9221-1320-5: 198.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.38
Предметные рубрики: Микроскопия электронная сканирующая-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка: ИПТМ РАН, 2011
Колич.характеристики : + 1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Коллективы : Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (17; 2011 ; 30 мая-2 июня; Черноголовка)
Примечания : Библиогр. в конце ст.Алф. указ.: с. 276-279
ISBN, Цена 978-5-89589-054-7:
ГРНТИ : 29.31.21 + 29.35.43 + 29.31.26
ББК : В338.48я431 + В374я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Твердое тело-- Методы исследования-- Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Содержание : Приборы и электронная оптика ; Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава ; Сканирующая зондовая микроскопия ; Наноструктуры и нанотехнологии ; Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике ; Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии ; Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 2 : Биология
Выходные данные : М.: Наука, 1979
Колич.характеристики :268 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 261-267 :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Сборники
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : 16-18 окт. 1979 г., г. Таллин : тезисы докл. Т. 3
Выходные данные : М., 1979
Колич.характеристики :172 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце докл. - На рус. и англ. яз. :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Х 70
Автор(ы) : Хокс, Питер, Hawkes, P. W.
Заглавие : Электронная оптика и электронная микроскопия
Выходные данные : М.: Мир, 1974
Колич.характеристики :319 с.: ил.
Перевод издания: Hawkes P. W. Electron optics and electron microscopy
Примечания : Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). - Предм. указ.
Цена : 5 к. р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.2 + В338.48
Содержание : Пределы применимости светового микроскопа и электронный микроскоп ; Электронные линзы ; Электронный микроскоп ; Растровая электронная микроскопия и исследование поверхностей ; Применения
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие