Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)
Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-37 
1.

Вид документа : Однотомное издание (Препринт)
Шифр издания : В33/О-92
Автор(ы) : Охонин В. А.
Заглавие : Физические основы оптической микроскопии с разрешением деталей, много меньших длины волны : препринт. № 65Б
Выходные данные : Красноярск: ИФ СО АН СССР, 1987
Колич.характеристики :16 с
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения АН СССР
Примечания : Библиогр.: 2 назв. - ДСП :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Экземпляры : всего : Препр.(2)
Свободны : Препр.(2)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Д 50
Автор(ы) : Болдырев, Владимир Вячеславович, Ляхов Н. З., Толочко Б. П.
Заглавие : Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения
Выходные данные : Новосибирск: Наука, Сиб. отд-ние, 1989
Колич.характеристики :143 с
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт биофизики Сибирского отделения РАН, Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья Сибирского отделения АН СССР, Институт ядерной физики Сибирского отделения АН СССР
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 141-143
ISBN, Цена 5-02-028690-7: 2.10 р.
ГРНТИ : 29.19.19 + 29.35.43
ББК : В338 + В371.21 + Г461.4
Предметные рубрики: Кристаллы-- Структура-- Методы исследования-- Рентгеноструктурный анализ
Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/П 38
Автор(ы) : Плескова, Светлана Николаевна
Заглавие : Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях : учебное пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2011
Колич.характеристики :183 с
Примечания : Библиогр.: с. 173-183
ISBN, Цена 978-5-91559-108-9: 550.00 р.
ГРНТИ : 34.05 + 29.35.43
ББК : В338.48 + Г461.31
Предметные рубрики: Микроскопия сканирующая зондовая-- Методы-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 74
Заглавие : Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Научный мир, 2011
Колич.характеристики :711 с.: ил.; 27 см.
Коллективы : Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники
Перевод издания: Handbook of microscopy for nanotechnology. -Boston, 2005
Примечания : Библиогр. в конце разд. - На корешке авт.: Нан Яо, Чжун Лин Ван
ISBN, Цена 978-5-91522-232-7:
ГРНТИ : 81.13.13 + 29.35.43
ББК : В338.48я22 + Ж6-1в672я22
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение-- Наноуровень
Содержание : Оптическая микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, ионная микроскопия и нанопроизводство ; Электронная микроскопия
Экземпляры :ЧЗ(1)
Свободны : ЧЗ(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/И 91
Заглавие : Источники заряженных частиц с плазменным эмиттером
Выходные данные : Екатеринбург: Наука, 1993
Колич.характеристики :149 с.: ил.
Коллективы : Российская академия наук, Уральское отделение АН СССР, Институт электрофизики Уральского отделения РАН, Сибирское отделение РАН, Институт сильноточной электроники Сибирского отделения РАН
Примечания : Парал. тит. л. на англ. яз. - Библиогр.: с.144-146
ISBN, Цена 5-7691-0381-7:
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.411
Содержание : Физика электронных источников с высокой яркостью пучка на основе отражательного разряда с полым катодом , Б. А. Бурдовицин, В. Л. Галанский; Электронные источники с плазменными катодами для получения пучков большого сечения , Н. В. Гаврилов, В. И. Гушенец; Источники ионов технологического назначения на основе разрядов с холодными катодами , Н. В. Гаврилов, Е. М. Окс; Теоретические аспекты формирования разрядов низкого давления для плазменной эмиссионной электроники , М. Ю. Крейндель, Е. А. Литвинов
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : 16-18 окт. 1979 г., г. Таллин : тезисы докл. Т. 3
Выходные данные : М., 1979
Колич.характеристики :172 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце докл. - На рус. и англ. яз. :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 24
Автор(ы) : Свищев, Георгий Михайлович
Заглавие : Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки
Выходные данные : М.: Физматлит, 2011
Колич.характеристики :120 с. + 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 117-120
ISBN, Цена 978-5-9221-1320-5: 198.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.38
Предметные рубрики: Микроскопия электронная сканирующая-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 1 : Физика
Выходные данные : М.: Наука, 1979
Колич.характеристики :336 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 324-334 :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338я431 + В371.215я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Сборники
Содержание : Электронная оптика и приборостроение ; Микродифракция и структурный анализ в электронной микроскопии ; Методы электронно-зондовых исследований ; Тонкие пленки, поверхностные свойства и кристаллизация ; Дифракционный контраст ; Металлы и сплавы ; Минералы ; Полимеры, коллоидные сисетмы, аэрозоли
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 2 : Биология
Выходные данные : М.: Наука, 1979
Колич.характеристики :268 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 261-267 :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Сборники
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/М 34
Автор(ы) : Матышев, Александр Александрович
Заглавие : Изотраекторная корпускулярная оптика : учеб. пособие для вузов по направлению "Техн. физика"
Выходные данные : СПб.: Наука, 2000
Колич.характеристики :375 с.: орн.
Примечания : Библиогр.: с. 348-369
ISBN, Цена 5-02-024921-1: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я7
Предметные рубрики: Оптика-- Учебники и учебные пособия
Электронная оптика-- Учебники и учебные пособия
Ионная оптика-- Учебники и учебные пособия
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-37 
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)