Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)

Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-37

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 2 : Биология
Выходные данные : М.: Наука, 1979
Колич.характеристики :268 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 261-267 :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Сборники
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : 16-18 окт. 1979 г., г. Таллин : тезисы докл. Т. 3
Выходные данные : М., 1979
Колич.характеристики :172 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце докл. - На рус. и англ. яз. :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 1 : Физика
Выходные данные : М.: Наука, 1979
Колич.характеристики :336 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 324-334 :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338я431 + В371.215я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Сборники
Содержание : Электронная оптика и приборостроение ; Микродифракция и структурный анализ в электронной микроскопии ; Методы электронно-зондовых исследований ; Тонкие пленки, поверхностные свойства и кристаллизация ; Дифракционный контраст ; Металлы и сплавы ; Минералы ; Полимеры, коллоидные сисетмы, аэрозоли
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'99 : тез. докл.
Выходные данные : Черноголовка: Богородский печатник, 1999
Колич.характеристики :145 с
Коллективы : Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (11; 1999; Черноголовка)
Примечания : Библиогр. в конце докл. - Авт. указ.: с. 142-145
ISBN, Цена 5-89589-010-5:
ГРНТИ : 29.35.43 + 29.19.19
ББК : В338.4я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 15 июня - 18 июня 1998 г. : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка, 1998
Колич.характеристики :325 с
Коллективы : Российская конференция по электронной микроскопии(17;1998), Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
Примечания : Имен. указ.
ISBN, Цена 5-89589-004-0: 25.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка: ИПТМ РАН, 2011
Колич.характеристики : + 1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Коллективы : Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (17; 2011 ; 30 мая-2 июня; Черноголовка)
Примечания : Библиогр. в конце ст.Алф. указ.: с. 276-279
ISBN, Цена 978-5-89589-054-7:
ГРНТИ : 29.31.21 + 29.35.43 + 29.31.26
ББК : В338.48я431 + В374я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Твердое тело-- Методы исследования-- Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Содержание : Приборы и электронная оптика ; Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава ; Сканирующая зондовая микроскопия ; Наноструктуры и нанотехнологии ; Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике ; Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии ; Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVIII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 5 июня-8 июля 1998 г. : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка, 2000
Колич.характеристики :338 с
Коллективы : Российская конференция по электронной микроскопии(18;2000), Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Примечания : Имен. указ.
ISBN, Цена 5-89589-020-2: 76.80 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка: ИПТМ РАН, 2013
Колич.характеристики :518 с. ; 21 см
Коллективы : Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (18; 2013 ; 3-7 июня; Черноголовка)
Примечания : Библиогр. в конце ст.Алф. указ.: с. 276-279
ISBN, Цена 978-5-89589-065-3:
ГРНТИ : 29.31.21 + 29.35.43 + 29.31.26
ББК : В338.48я431 + В374я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Твердое тело-- Методы исследования-- Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/М 98
Автор(ы) : Мюллер Э., Цонь Т.
Заглавие : Автоионная микроскопия (принципы и применение)
Выходные данные : М.: Металлургия, 1972
Колич.характеристики :360 с.: ил
Перевод издания: Müller E. W. Field ion microscopy. Principles and applications/ E. W. Müller, T. T. Tsong. -New York, 1969
Примечания : Библиогр.: с. 354-360. - Библиогр. в конце глав
Цена : 2.54 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение
Микроскопия ионная-- Методы-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В32/М13
Автор(ы) : Маев, Роман Григорьевич
Заглавие : Акустическая микроскопия
Выходные данные : М.: ТОРУС ПРЕСС, 2005
Колич.характеристики :383 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 326-379. - Предисл. и оглав. на англ. и рус. яз.
ISBN, Цена 5-94588-031-0: 150.00 р.
ГРНТИ : 29.37.23 + 29.35.43
ББК : В321 + В341.9
Предметные рубрики: Микроскопия акустическая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие