Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН
Труды сотрудников ИФ СО РАН
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)
Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-37 
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В32/М13
Автор(ы) : Маев, Роман Григорьевич
Заглавие : Акустическая микроскопия
Выходные данные : М.: ТОРУС ПРЕСС, 2005
Колич.характеристики :383 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 326-379. - Предисл. и оглав. на англ. и рус. яз.
ISBN, Цена 5-94588-031-0: 150.00 р.
ГРНТИ : 29.37.23 + 29.35.43
ББК : В321 + В341.9
Предметные рубрики: Микроскопия акустическая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : В33/С38
Автор(ы) : Синдо, Дайзуке, Оикава, Тецуо
Заглавие : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Выходные данные : М.: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :253 с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Перевод издания: Shindo D. Analytical Electron Microscopy for Materials Science/ D. Shindo, T. Oikawa
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 5-94836-064-4 :
ГРНТИ : 29.31.26 + 29.31.29 + 29.35.43 + 81.09.03
ББК : В338.48 + Ж3-1с + В344
Предметные рубрики: Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVIII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 5 июня-8 июля 1998 г. : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка, 2000
Колич.характеристики :338 с
Коллективы : Российская конференция по электронной микроскопии(18;2000), Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Примечания : Имен. указ.
ISBN, Цена 5-89589-020-2: 76.80 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 15 июня - 18 июня 1998 г. : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка, 1998
Колич.характеристики :325 с
Коллективы : Российская конференция по электронной микроскопии(17;1998), Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
Примечания : Имен. указ.
ISBN, Цена 5-89589-004-0: 25.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
5.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : В33/С 42
Автор(ы) : Криштал, Михаил Михайлович, Ясников, Игорь Станиславович, Полунин, Виктор Иванович, Филатов, Анатолий Михайлович, Ульяненков, Александр Георгиевич
Заглавие : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Техносфера, 2009
Колич.характеристики :206 с
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 55-56 (10 назв.).
ISBN, Цена 978-5-94836-200-7: 330.31 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 31.19
ББК : В338.38я73 + Ж3-1с5я73
Предметные рубрики: Твердое тело-- Методы исследования-- Учебники и учебные пособия
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие
6.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Автор(ы) :
Заглавие : Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в 2 кн./ Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. c англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. Кн. 1
Выходные данные : М.: Мир, 1984
Колич.характеристики :303 с.: ил.
Примечания : Загл. парал. англ.
Цена : 3.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие
7.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Автор(ы) :
Заглавие : Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в 2 кн./ Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. Кн. 2
Выходные данные : М.: Мир, 1984
Колич.характеристики :348 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 318-341. - Предм. указ.: с. 342-346
Цена : 3.10 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие
8.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Т 56
Автор(ы) : Томас, Гарет, Гориндж, Майкл Д.
Заглавие : Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Наука, 1983
Колич.характеристики :317 с.: ил.
Перевод издания: Tomas, Gareth Transmission electron microscopy of materials/ Gareth Tomas, Michael J. Goringe
Примечания : Библиогр.: с. 310-317
Цена : 3.90 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 31.19
ББК : В338.48 + В338.38 + Ж3-1с5
Предметные рубрики: Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Ш 61
Автор(ы) : Шиммель Г.
Заглавие : Методика электронной микроскопии : пер. с нем.
Выходные данные : М.: Мир, 1972
Колич.характеристики :300 с.: ил.
Перевод издания: Schimmel G. Von Elektronenmikroskopische methodik
Примечания : Библиогр.: с. 285-292. - Указ. авт. и предм.: с. 293-297
Цена : 1.62 р.
ГРНТИ : 31.19 + 29.35.43
ББК : В338.48 + Ж3-1
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Э 45
Автор(ы) : Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М.
Заглавие : Электронная микроскопия тонких кристаллов : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Мир, 1968
Колич.характеристики :574 с
Перевод издания: Hirsh P. B. Electron microscopy of thin crystals/ P. B. Hirsh, A. Howie, R. B. Nicholson. -London, 1965
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.
Цена : 3.44 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В371.26 + В338.48
Предметные рубрики: Кристаллы-- Микроскопия электронная
Микроскопы электронные-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-37 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор

Другие библиотеки

Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)