Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>) |
Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел/Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии им. А.В. Шубникова. - 2013
|
2.
| Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение/ред. пер. Т. П. Каминская ; пер.: С. А. Иванов, К. И. Домкин. - 2013
|
3.
| XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел/Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - 2011
|
4.
| Свищев Г. М. Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки/Г. М. Свищев. - 2011
|
5.
| Справочник по микроскопии для нанотехнологии/Моск. гос. ун-т им. М.В. Ломоносова. - 2011
|
6.
| Плескова С. Н. Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях/С. Н. Плескова. - 2011
|
7.
| Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения/М. М. Криштал [и др.]. - 2009
|
8.
| Синдо Д. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия/Д. Синдо, Т.Оикава. - 2006
|
9.
| Маев Р. Г. Акустическая микроскопия/Р. Г. Маев. - 2005
|
10.
| Российская конференция по электронной микроскопии(18; 2000).XVIII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 5 июня-8 июля 1998 г./Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектр. и особочист. матер., Ин-т кристаллографии. - 2000
|
11.
| Матышев А. А. Изотраекторная корпускулярная оптика/А. А. Матышев; под ред. С. Я. Явор. - 2000
|
12.
| XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'99/Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - 1999
|
13.
| Российская конференция по электронной микроскопии(17; 1998).XVII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 15 июня - 18 июня 1998 г./Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов. - 1998
|
14.
| Источники заряженных частиц с плазменным эмиттером/Рос. акад. наук. Урал. отд-ние. Ин-т электрофизики, Сиб. отд-ние. Ин-т сильноточ. электроники. - 1993
|
15.
| Основы аналитической электронной микроскопии/[Ньюбури Д. Е., Каули Дж. М., Вильямс Д. Б. и др.] ; под ред. Дж. Дж. Грен [и др.] ; пер. с англ. под ред. М. П. Усикова. - 1990
|
16.
| Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения/В. В. Болдырев [и др.] ; отв. ред. Г. М. Кулипанов. - 1989
|
17.
| Охонин В. А. Физические основы оптической микроскопии с разрешением деталей, много меньших длины волны/В. А. Охонин. - 1987
|
18.
| Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Кн. 2. - 1984
|
19.
| Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Кн. 1. - 1984
|
20.
| Томас Г. Просвечивающая электронная микроскопия материалов/Г. Томас, М. Д. Гориндж ; ред. пер. Б. К. Вайнштейн. - 1983
|
|
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Стандартный
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН