Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)

Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-37

   В33
   Р 76


    XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии им. А.В. Шубникова. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2013. - 518 с. ; 21 см. - Библиогр. в конце ст. - Алф. указ.: с. 276-279. - ISBN 978-5-89589-065-3 : 210.00 р.

ГРНТИ

29.31.21

29.35.43

29.31.26

ББК В338.48я431 + В374я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники
Твердое тело--Методы исследования--Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (18 ; 2013 ; 3-7 июня ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   Р 24


    Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ. / ред. пер. Т. П. Каминская ; пер.: С. А. Иванов, К. И. Домкин. - М. : БИНОМ. Лаб. знаний, 2013. - 582 с. : ил. + 25 см. - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8. - Пер. изд. : Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications / Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. - 2006. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 1320.00 р.
    Содержание:
Основы растровой электронной микроскопии

ГРНТИ

29.35.43

29.19.22

ББК В338.48 + Ж36-1с + Ж607с
Рубрики:
Наноструктуры--Исследование--Методы
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Применение--Нанотехнологии

Content,
Содержание,
Глава 1
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Каминская, Т. П. \ред. пер.\; Иванов, С. А. \пер.\; Домкин, К. И. \пер.\; Weili Zhou, ed.; Zhong Lin Wang, ed.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   Р 76


    XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2011. - + 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Библиогр. в конце ст. - Алф. указ.: с. 276-279. - 220 экз. - ISBN 978-5-89589-054-7 : 90 р.
    Содержание:
Приборы и электронная оптика
Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава
Сканирующая зондовая микроскопия
Наноструктуры и нанотехнологии
Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике
Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии
Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии

ГРНТИ

29.31.21

29.35.43

29.31.26

ББК В338.48я431 + В374я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники
Твердое тело--Методы исследования--Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (17 ; 2011 ; 30 мая-2 июня ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (2)}
Найти похожие

   В33
   С 24

    Свищев, Георгий Михайлович.
    Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки / Г. М. Свищев. - М. : Физматлит, 2011. - 120 с. + 22 см. - Библиогр.: с. 117-120. - 200 экз. - ISBN 978-5-9221-1320-5 : 198.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.38
Рубрики:
Микроскопия электронная сканирующая--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   С 74


    Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М.В. Ломоносова ; ред.: Нан Яо, И. В. Яминский, Чжун Лин Ван. - М. : Научный мир, 2011. - 711 с. : ил. ; 27 см. - (Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники). - Библиогр. в конце разд. - Пер. изд. : Handbook of microscopy for nanotechnology. - Boston, 2005. - 1000 экз. - ISBN 978-5-91522-232-7 : 1376.00 р.
На корешке авт.: Нан Яо, Чжун Лин Ван
    Содержание:
Оптическая микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, ионная микроскопия и нанопроизводство
Электронная микроскопия

ГРНТИ

81.13.13

29.35.43

ББК В338.48я22 + Ж6-1в672я22
Рубрики:
Микроскопия электронная--Методы--Применение--Наноуровень

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Нан Яо \ред.\; Яминский, Игорь Владимирович \ред.\; Чжун Лин Ван \ред.\; Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)}
Найти похожие

   В33
   П 38

    Плескова, Светлана Николаевна.
    Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях : учебное пособие / С. Н. Плескова. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 183 с. - Библиогр.: с. 173-183. - 800 экз. - ISBN 978-5-91559-108-9 : 550.00 р.

ГРНТИ

34.05

29.35.43

ББК В338.48 + Г461.31
Рубрики:
Микроскопия сканирующая зондовая--Методы--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   С 42


    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 55-56 (10 назв.). - 1500 экз. - ISBN 978-5-94836-200-7 : 330.31 р.

ГРНТИ

29.35.43

31.19

ББК В338.38я73 + Ж3-1с5я73
Рубрики:
Твердое тело--Методы исследования--Учебники и учебные пособия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Криштал, Михаил Михайлович; Ясников, Игорь Станиславович; Полунин, Виктор Иванович; Филатов, Анатолий Михайлович; Ульяненков, Александр Георгиевич
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

   В33
   С38

    Синдо, Дайзуке.
    Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т.Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Analytical Electron Microscopy for Materials Science / D. Shindo, T. Oikawa. - ISBN 5-94836-064-4 : 168.00 р.

ГРНТИ

ББК В338.48 + Ж3-1с + В344
Рубрики:
Микроскопия электронная просвечивающая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Оикава, Тецуо; Shindo, D. Oikawa, T.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В32
   М13

    Маев, Роман Григорьевич.
    Акустическая микроскопия / Р. Г. Маев. - М. : ТОРУС ПРЕСС, 2005. - 383 с. : ил. - Библиогр.: с. 326-379. - ISBN 5-94588-031-0 : 150.00 р.
Предисл. и оглав. на англ. и рус. яз.

ГРНТИ

29.37.23

29.35.43

ББК В321 + В341.9
Рубрики:
Микроскопия акустическая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

10.

   В33
   Р 76

    Российская конференция по электронной микроскопии (18 ; 2000).
    XVIII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 5 июня-8 июля 1998 г. : тезисы докладов / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектр. и особочист. матер., Ин-т кристаллографии. - Черноголовка : [б. и.], 2000. - 338 с. - Имен. указ. - ISBN 5-89589-020-2 : 76.80 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4я431

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

11.

   В33
   М 34

    Матышев, Александр Александрович.
    Изотраекторная корпускулярная оптика : учеб. пособие для вузов по направлению "Техн. физика" / А. А. Матышев; под ред. С. Я. Явор. - СПб. : Наука, 2000. - 375 с. : орн. - Библиогр.: с. 348-369. - ISBN 5-02-024921-1 : Б. ц.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4я7
Рубрики:
Оптика--Учебники и учебные пособия
Электронная оптика--Учебники и учебные пособия
Ионная оптика--Учебники и учебные пособия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Явор, С. Я. \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

12.

   В33
   Р 76


    XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'99 : тез. докл. / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - Черноголовка : Богородский печатник, 1999. - 145 с. - Библиогр. в конце докл. - Авт. указ.: с. 142-145. - ISBN 5-89589-010-5 : 15.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

29.19.19

ББК В338.4я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (11 ; 1999 ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

13.

   В33
   Р 76

    Российская конференция по электронной микроскопии (17 ; 1998).
    XVII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 15 июня - 18 июня 1998 г. : тезисы докладов / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов. - Черноголовка : [б. и.], 1998. - 325 с. - Имен. указ. - ISBN 5-89589-004-0 : 25.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4я431

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

14.

   В33
   И 91


    Источники заряженных частиц с плазменным эмиттером / Рос. акад. наук. Урал. отд-ние. Ин-т электрофизики, Сиб. отд-ние. Ин-т сильноточ. электроники ; [отв. ред. П. М. Щанин]. - Екатеринбург : Наука, 1993. - 149 с. : ил. - Парал. тит. л. на англ. яз. - Библиогр.: с.144-146. - ISBN 5-7691-0381-7 : 2000.00 р.
    Содержание:
Физика электронных источников с высокой яркостью пучка на основе отражательного разряда с полым катодом
Другие авторы: Бурдовицин Б. А., Галанский В. Л., Груздев В. А., Осипов И. В., Ремпе Н. Г.
Электронные источники с плазменными катодами для получения пучков большого сечения
Другие авторы: Гаврилов Н. В., Гушенец В. И., Коваль Н. Н., Окс Е. М., Толкачев В. С., Щанин П. М.
Источники ионов технологического назначения на основе разрядов с холодными катодами
Другие авторы: Гаврилов Н. В., Окс Е. М., Юшков Г. Ю., Мартенс В. Я., Семенов А. П., Шубин О. А.
Теоретические аспекты формирования разрядов низкого давления для плазменной эмиссионной электроники
Другие авторы: Крейндель М. Ю., Литвинов Е. А., Никулин С. П., Садовская Е. Ю.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.411

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Щанин, П. М. \отв. ред.\; Груздев, В. А. ; Осипов, И. В. ; Ремпе, Н. Г. ; Коваль, Н. Н. ; Окс, Ефим Михайлович; Толкачев, В. С. ; Щанин, П. М. ; Юшков, Г. Ю. ; Мартенс, В. Я. ; Семенов, А. П. ; Шубин, О. А. ; Никулин, С. П.; Садовская, Е. Ю.; Российская академия наук; Уральское отделение АН СССР; Институт электрофизики Уральского отделения РАН; Сибирское отделение РАН; Институт сильноточной электроники Сибирского отделения РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

15.

   В33
   О-75


    Основы аналитической электронной микроскопии / [Ньюбури Д. Е., Каули Дж. М., Вильямс Д. Б. и др.] ; под ред. Дж. Дж. Грен [и др.] ; пер. с англ. под ред. М. П. Усикова. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : граф., табл., фото. - Авт. указ. в огл. - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 576-578 (31 назв.). - 1800 экз. - 7.40 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4
Рубрики:
Электронная микроскопия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Ньюбури, Д. Е.; Каули, Дж. М.; Вильямс, Д. Б.; Грен, Дж. Дж. \ред.\; Гольдштейн, Дж. И. \ред.\; Джоя, Д. К. \ред.\; Ромига, А. Д. \ред.\; Усиков, М. П. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

16.

   В33
   Д 50


    Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения / В. В. Болдырев [и др.] ; отв. ред. Г. М. Кулипанов ; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т биофизики , Ин-т химии твердого тела и перераб. минерал. сырья, Ин-т ядер. физики. - Новосибирск : Наука, Сиб. отд-ние, 1989. - 143 с. - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 141-143. - ISBN 5-02-028690-7 : 2.10 р.

ГРНТИ

29.19.19

29.35.43

ББК В338 + В371.21 + Г461.4
Рубрики:
Кристаллы--Структура--Методы исследования--Рентгеноструктурный анализ
Микроскопия электронная просвечивающая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Болдырев, Владимир Вячеславович; Ляхов, Н. З.; Толочко, Б. П.; Кулипанов, Г. М. \ред.\; Академия наук СССР; Сибирское отделение АН СССР; Институт биофизики Сибирского отделения РАН; Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья Сибирского отделения АН СССРИнститут ядерной физики Сибирского отделения АН СССР
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

17.

   В33
   О-92

    Охонин, В. А.
    Физические основы оптической микроскопии с разрешением деталей, много меньших длины волны [Препринт] : препринт. № 65Б / В. А. Охонин ; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - Красноярск : ИФ СО АН СССР, 1987. - 16 с. - Библиогр.: 2 назв. - 150 экз.
ДСП

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Академия наук СССР; Сибирское отделение АН СССР; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения АН СССР
Экземпляры всего: 2
Препр. (2)
Свободны: Препр. (2)}
Найти похожие

18.

   В33
   Р 24

    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1984.
   Кн. 2. - 1984. - 348 с. : ил. - Библиогр.: с. 318-341. - Предм. указ.: с. 342-346. - 3.10 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Дж.; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

19.

   В33
   Р 24

    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. c англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1984 - .
   Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. - Загл. парал. англ. - 3.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Д.; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

20.

   В33
   Т 56

    Томас, Гарет.
    Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ. / Г. Томас, М. Д. Гориндж ; ред. пер. Б. К. Вайнштейн. - М. : Наука, 1983. - 317 с. : ил. - Библиогр.: с. 310-317. - Пер. изд. : Transmission electron microscopy of materials / Gareth Tomas, Michael J. Goringe. - 2850 экз. - 3.90 р.

ГРНТИ

29.35.43

31.19

ББК В338.48 + В338.38 + Ж3-1с5
Рубрики:
Микроскопия электронная просвечивающая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гориндж, Майкл Д.; Вайнштейн, Борис Константинович \ред. пер.\; Tomas, Gareth; Goringe, Michael J.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие