Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)

Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-37

   В33
   С 91

    Сушкин, Н. Г.
    Электронный микроскоп / Н. Г. Сушкин. - М. ; Л. : Гостехиздат, 1949. - 276 с. : рис. - Библиогр.: с. 274-276. - 10000 экз. - Б. ц.
Пометки владельца коллекции: Цомакион 356.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48
Рубрики:
Микроскопы электронные

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
СЦ (1), Музей (1)
Свободны: СЦ (1), Музей (1)}
Найти похожие

   В34
   С 67

    Соул, Х.
    Электроннооптическое фотографирование / Х. Соул ; сокр.пер. с англ. под ред. В. К. Базарова и И. Ф. Усольцева. - М. : Воениздат, 1972. - 404 с. - Пер. изд. : Electrooptical photography at low illumination levels / Harold V. Soul. - Б. ц.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4
Рубрики:
Микроскопия электронная

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Базаров, В. К. \пер.\; Усольцев, И. Ф. \пер.\; Soul, Harold V.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В37
   Э 45


    Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки : справ. руководство / под ред. В. М. Косевича и Л. С. Палатника. - М. : Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1976. - 223 с. : фот. - Библиогр.: 153 назв. - 6000 экз. - 1.12 р.
    Содержание:
Вопросы методики расчета дифракционного контраста
Изображение единичных дислокаций
Изображение групп дислокаций
Дислокационные сетки
Дислокации на межфазных и межкристаллитных границах
Особые дислокационные конфигурации
Дислокационные петли
Изображение дефектов упаковки
Частичные дислокации
Уточнение индицирования электронограмм и определение по кикучи-линиям ориентировки кристаллов

ГРНТИ

29.19.11

29.35.43

ББК В371.231.3я22 + В371.214.4я22

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Косевич, Вадим Маркович \ред.\; Палатник, Лев Самойлович \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   Х 70

    Хокс, Питер.
    Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина и А .М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. - М. : Мир, 1974. - 319 с. : ил. - Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). - Предм. указ. - Пер. изд. : Electron optics and electron microscopy / P. W. Hawkes. - 5 к. р.
    Содержание:
Пределы применимости светового микроскопа и электронный микроскоп
Электронные линзы
Электронный микроскоп
Растровая электронная микроскопия и исследование поверхностей
Применения

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.2 + В338.48

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Hawkes, P. W.; Стоянова, И. Г. \ред.\; Анаскин, И. Ф. \пер.\; Розенфельд, А. М. \пер.\; Hawkes, P. W.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В37
   Э 45


    Электронная микроскопия тонких кристаллов : пер. с англ. / П. Хирш, А. Хови [и др.] ; ред. пер. Л. М. Утевский. - М. : Мир, 1968. - 574 с. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. - Пер. изд. : Electron microscopy of thin crystals / P. B. Hirsh, A. Howie, R. B. Nicholson. - London, 1965. - 3.44 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В371.26 + В338.48
Рубрики:
Кристаллы--Микроскопия электронная
Микроскопы электронные--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Хирш, П.; Хови, А.; Николсон, Р.; Пэшли, Д.; Уэлан, М.; Утевский, Л. М. \ред. пер.\; Hirsh, P. B.; Howie, A. ; Nicholson, R. B.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   Л 42

    Лейзеганг, З.
    Электронная микроскопия / З. Лейзеганг ; пер. с нем.Г. В. Дер-Шварц. - М. : Изд-во иностр. лит., 1960. - 240 с. - Библиогр.: с. 231-238. - Пер. изд. : Elektronenmikroskope : handbuch der physik / S. Leisegandg. - Berlin, 1956. - 1.21 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4
Рубрики:
Микроскопия электронная

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Дер-Шварц, Г. В. \пер.\; Leisegandg, S.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   О-92

    Охонин, В. А.
    Физические основы оптической микроскопии с разрешением деталей, много меньших длины волны [Препринт] : препринт. № 65Б / В. А. Охонин ; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - Красноярск : ИФ СО АН СССР, 1987. - 16 с. - Библиогр.: 2 назв. - 150 экз.
ДСП

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Академия наук СССР; Сибирское отделение АН СССР; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения АН СССР
Экземпляры всего: 2
Препр. (2)
Свободны: Препр. (2)}
Найти похожие

   В33
   С 82

    Стоянова, Инна Григорьевна.
    Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии / И. Г. Стоянова, И. Ф. Анаскин ; Акад. наук СССР, Науч. совет по проблемам биофизики. - М. : Наука, 1972. - 371 с. : граф., рис., табл. - Загл. на корешке : Физические основы методов электронной микроскопии. - Библиогр.: с. 357-363 (281 назв.). - Предм. указ.: с. 364-367. - 2000 экз. - 1.70 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48
Рубрики:
Микроскопия электронная просвечивающая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Анаскин, Иван Филлипович; Академия наук СССРНаучный совет по проблемам биофизики АН СССР
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   Ф 83

    Франсон, Морис.
    Фазово-контрастный и интерференционный микроскопы / М. Франсон ; пер. с фр. М. А. Мазинг, под ред. Г. Г. Слюсарева. - М. : Гос. изд-во физ.-мат. лит., 1960. - 180 с. : граф., фот., рис. + 1 вкл. л. цв. ил. - Библиогр.: с. 166-180. - Пер. изд. : Le microscope à contraste de phase et le microscope interférentiel / Maurice Françon. - 1954. - 6.45 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4
Рубрики:
Микроскопы электронные--Физические основы

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Мазинг, М. А. \пер.\; Слюсарев, Г. Г. \ред.\; Françon, Maurice
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

10.

   В33
   Т 38


    Техника электронной микроскопии : пер. с англ. / ред. Д. Кэй ; пер.: С. Б. Стефанов, А. П. Захаров ; ред. пер. В. М. Лукьянович. - М. : Мир, 1965. - 406 с. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. - Пер. изд. : Techniques for electron microscopy / ed. Desmond Kay. - Oxford, 1961. - 1.80 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48
Рубрики:
Микроскопия электронная--Методы--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Кэй, Д. \ред.\; Стефанов, С. Б. \пер.\; Захаров, А. П. \пер.\; Лукьянович, Всеволод Михайлович \ред. пер.\; Kay Desmond, ed.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

11.

   В33
   С 74


    Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М.В. Ломоносова ; ред.: Нан Яо, И. В. Яминский, Чжун Лин Ван. - М. : Научный мир, 2011. - 711 с. : ил. ; 27 см. - (Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники). - Библиогр. в конце разд. - Пер. изд. : Handbook of microscopy for nanotechnology. - Boston, 2005. - 1000 экз. - ISBN 978-5-91522-232-7 : 1376.00 р.
На корешке авт.: Нан Яо, Чжун Лин Ван
    Содержание:
Оптическая микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, ионная микроскопия и нанопроизводство
Электронная микроскопия

ГРНТИ

81.13.13

29.35.43

ББК В338.48я22 + Ж6-1в672я22
Рубрики:
Микроскопия электронная--Методы--Применение--Наноуровень

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Нан Яо \ред.\; Яминский, Игорь Владимирович \ред.\; Чжун Лин Ван \ред.\; Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)}
Найти похожие

12.

   В33
   С 42


    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 55-56 (10 назв.). - 1500 экз. - ISBN 978-5-94836-200-7 : 330.31 р.

ГРНТИ

29.35.43

31.19

ББК В338.38я73 + Ж3-1с5я73
Рубрики:
Твердое тело--Методы исследования--Учебники и учебные пособия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Криштал, Михаил Михайлович; Ясников, Игорь Станиславович; Полунин, Виктор Иванович; Филатов, Анатолий Михайлович; Ульяненков, Александр Георгиевич
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

13.

   В33
   Р 24

    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. c англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1984 - .
   Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. - Загл. парал. англ. - 3.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Д.; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

14.

   В33
   Р 24

    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1984.
   Кн. 2. - 1984. - 348 с. : ил. - Библиогр.: с. 318-341. - Предм. указ.: с. 342-346. - 3.10 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Дж.; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

15.

   В33
   Р 24


    Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ. / ред. пер. Т. П. Каминская ; пер.: С. А. Иванов, К. И. Домкин. - М. : БИНОМ. Лаб. знаний, 2013. - 582 с. : ил. + 25 см. - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8. - Пер. изд. : Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications / Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. - 2006. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 1320.00 р.
    Содержание:
Основы растровой электронной микроскопии

ГРНТИ

29.35.43

29.19.22

ББК В338.48 + Ж36-1с + Ж607с
Рубрики:
Наноструктуры--Исследование--Методы
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Применение--Нанотехнологии

Content,
Содержание,
Глава 1
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Каминская, Т. П. \ред. пер.\; Иванов, С. А. \пер.\; Домкин, К. И. \пер.\; Weili Zhou, ed.; Zhong Lin Wang, ed.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

16.

   В33
   Т 56

    Томас, Гарет.
    Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ. / Г. Томас, М. Д. Гориндж ; ред. пер. Б. К. Вайнштейн. - М. : Наука, 1983. - 317 с. : ил. - Библиогр.: с. 310-317. - Пер. изд. : Transmission electron microscopy of materials / Gareth Tomas, Michael J. Goringe. - 2850 экз. - 3.90 р.

ГРНТИ

29.35.43

31.19

ББК В338.48 + В338.38 + Ж3-1с5
Рубрики:
Микроскопия электронная просвечивающая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гориндж, Майкл Д.; Вайнштейн, Борис Константинович \ред. пер.\; Tomas, Gareth; Goringe, Michael J.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

17.

   В33
   П 26

    "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине", республиканская научно-техническая конференция (1 ; 1975 ; окт. ; Харьков).
    Первая республиканская научно-техническая конференция "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине" : тез. докл. Секция 1. Применение электронной микроскопии в материаловедении / М-во здравоохранения УССР, Ин-т проблем материаловедения, Харьк. обл. совет НТО. - Киев : [б. и.], 1975. - 78 с. - 500 экз. - Б. ц.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4я431

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Министерство здравоохранения Украинской ССР; Академия наук Украинской ССР; Институт проблем материаловедения АН Украинской ССР; Харьковский областной совет Украинского республиканского правления НТО РЭиС им. А. С. Попова. Дом техники
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

18.

   В33
   П 26

    "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине", республиканская научно-техническая конференция (1 ; 1975 ; окт. ; Харьков).
    Первая республиканская научно-техническая конференция "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине" : тез. докл. Секция 2. Применение электронной микроскопии в биологии и медицине / М-во здравоохранения УССР, Ин-т проблем материаловедения, Харьк. обл. совет НТО. - Киев : [б. и.], 1975. - 92 с. - 500 экз. - Б. ц.

ГРНТИ

29.35.43

34.05.25

76.13.15

19.

   В33
   О-75


    Основы аналитической электронной микроскопии / [Ньюбури Д. Е., Каули Дж. М., Вильямс Д. Б. и др.] ; под ред. Дж. Дж. Грен [и др.] ; пер. с англ. под ред. М. П. Усикова. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : граф., табл., фото. - Авт. указ. в огл. - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 576-578 (31 назв.). - 1800 экз. - 7.40 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4
Рубрики:
Электронная микроскопия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Ньюбури, Д. Е.; Каули, Дж. М.; Вильямс, Д. Б.; Грен, Дж. Дж. \ред.\; Гольдштейн, Дж. И. \ред.\; Джоя, Д. К. \ред.\; Ромига, А. Д. \ред.\; Усиков, М. П. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

20.

   В33
   Ш 61

    Шиммель, Г.
    Методика электронной микроскопии : пер. с нем. / Г. Шиммель ; пер.: А. М. Розенфельд, Н. М. Спасский ; ред. пер. В. Н. Рожанский. - М. : Мир, 1972. - 300 с. : ил. - Библиогр.: с. 285-292. - Указ. авт. и предм.: с. 293-297. - Пер. изд. : Elektronenmikroskopische methodik / G. Von Schimmel. - 1.62 р.

ГРНТИ

31.19

29.35.43

ББК В338.48 + Ж3-1
Рубрики:
Микроскопия электронная--Методы--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Розенфельд, А. М. \пер.\; Спасский, Н. М. \пер.\; Рожанский, В. Н. \ред. пер.\; Schimmel, G. Von
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (2)}
Найти похожие