Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)

Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-37

   В33
   О-92

    Охонин, В. А.
    Физические основы оптической микроскопии с разрешением деталей, много меньших длины волны [Препринт] : препринт. № 65Б / В. А. Охонин ; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - Красноярск : ИФ СО АН СССР, 1987. - 16 с. - Библиогр.: 2 назв. - 150 экз.
ДСП

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Академия наук СССР; Сибирское отделение АН СССР; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения АН СССР
Экземпляры всего: 2
Препр. (2)
Свободны: Препр. (2)}
Найти похожие

   В33
   Д 50


    Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения / В. В. Болдырев [и др.] ; отв. ред. Г. М. Кулипанов ; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т биофизики , Ин-т химии твердого тела и перераб. минерал. сырья, Ин-т ядер. физики. - Новосибирск : Наука, Сиб. отд-ние, 1989. - 143 с. - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 141-143. - ISBN 5-02-028690-7 : 2.10 р.

ГРНТИ

29.19.19

29.35.43

ББК В338 + В371.21 + Г461.4
Рубрики:
Кристаллы--Структура--Методы исследования--Рентгеноструктурный анализ
Микроскопия электронная просвечивающая

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Болдырев, Владимир Вячеславович; Ляхов, Н. З.; Толочко, Б. П.; Кулипанов, Г. М. \ред.\; Академия наук СССР; Сибирское отделение АН СССР; Институт биофизики Сибирского отделения РАН; Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья Сибирского отделения АН СССРИнститут ядерной физики Сибирского отделения АН СССР
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   П 38

    Плескова, Светлана Николаевна.
    Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях : учебное пособие / С. Н. Плескова. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 183 с. - Библиогр.: с. 173-183. - 800 экз. - ISBN 978-5-91559-108-9 : 550.00 р.

ГРНТИ

34.05

29.35.43

ББК В338.48 + Г461.31
Рубрики:
Микроскопия сканирующая зондовая--Методы--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   С 74


    Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М.В. Ломоносова ; ред.: Нан Яо, И. В. Яминский, Чжун Лин Ван. - М. : Научный мир, 2011. - 711 с. : ил. ; 27 см. - (Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники). - Библиогр. в конце разд. - Пер. изд. : Handbook of microscopy for nanotechnology. - Boston, 2005. - 1000 экз. - ISBN 978-5-91522-232-7 : 1376.00 р.
На корешке авт.: Нан Яо, Чжун Лин Ван
    Содержание:
Оптическая микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, ионная микроскопия и нанопроизводство
Электронная микроскопия

ГРНТИ

81.13.13

29.35.43

ББК В338.48я22 + Ж6-1в672я22
Рубрики:
Микроскопия электронная--Методы--Применение--Наноуровень

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Нан Яо \ред.\; Яминский, Игорь Владимирович \ред.\; Чжун Лин Ван \ред.\; Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)}
Найти похожие

   В33
   И 91


    Источники заряженных частиц с плазменным эмиттером / Рос. акад. наук. Урал. отд-ние. Ин-т электрофизики, Сиб. отд-ние. Ин-т сильноточ. электроники ; [отв. ред. П. М. Щанин]. - Екатеринбург : Наука, 1993. - 149 с. : ил. - Парал. тит. л. на англ. яз. - Библиогр.: с.144-146. - ISBN 5-7691-0381-7 : 2000.00 р.
    Содержание:
Физика электронных источников с высокой яркостью пучка на основе отражательного разряда с полым катодом
Другие авторы: Бурдовицин Б. А., Галанский В. Л., Груздев В. А., Осипов И. В., Ремпе Н. Г.
Электронные источники с плазменными катодами для получения пучков большого сечения
Другие авторы: Гаврилов Н. В., Гушенец В. И., Коваль Н. Н., Окс Е. М., Толкачев В. С., Щанин П. М.
Источники ионов технологического назначения на основе разрядов с холодными катодами
Другие авторы: Гаврилов Н. В., Окс Е. М., Юшков Г. Ю., Мартенс В. Я., Семенов А. П., Шубин О. А.
Теоретические аспекты формирования разрядов низкого давления для плазменной эмиссионной электроники
Другие авторы: Крейндель М. Ю., Литвинов Е. А., Никулин С. П., Садовская Е. Ю.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.411

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Щанин, П. М. \отв. ред.\; Груздев, В. А. ; Осипов, И. В. ; Ремпе, Н. Г. ; Коваль, Н. Н. ; Окс, Ефим Михайлович; Толкачев, В. С. ; Щанин, П. М. ; Юшков, Г. Ю. ; Мартенс, В. Я. ; Семенов, А. П. ; Шубин, О. А. ; Никулин, С. П.; Садовская, Е. Ю.; Российская академия наук; Уральское отделение АН СССР; Институт электрофизики Уральского отделения РАН; Сибирское отделение РАН; Институт сильноточной электроники Сибирского отделения РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   В 85

    Всесоюзная конференция по электронной микроскопии (11 ; 1979 ; окт. ; 16-18 ; Таллин).
    XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : 16-18 окт. 1979 г., г. Таллин : тезисы докл. Т. 3 / Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор". - М. : [б. и.], 1979. - 172 с. - Библиогр. в конце докл. - 800 экз. - 1.15 р.
На рус. и англ. яз.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4я431

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР; "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   С 24

    Свищев, Георгий Михайлович.
    Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки / Г. М. Свищев. - М. : Физматлит, 2011. - 120 с. + 22 см. - Библиогр.: с. 117-120. - 200 экз. - ISBN 978-5-9221-1320-5 : 198.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.38
Рубрики:
Микроскопия электронная сканирующая--Применение

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   В 85

    Всесоюзная конференция по электронной микроскопии (11 ; 1979 ; окт. ; 16-18 ; Таллин).
    XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 1. Физика / Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор" ; ред. В. Н. Баранов [и др.]. - М. : Наука, 1979. - 336 с. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 324-334. - 900 экз. - 1.40 р.
    Содержание:
Электронная оптика и приборостроение
Микродифракция и структурный анализ в электронной микроскопии
Методы электронно-зондовых исследований
Тонкие пленки, поверхностные свойства и кристаллизация
Дифракционный контраст
Металлы и сплавы
Минералы
Полимеры, коллоидные сисетмы, аэрозоли

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338я431 + В371.215я431
Рубрики:
Микроскопия электронная--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Баранов, В. Н. \ред.\; Смирнова, Р. С. \ред.\; Стельмащук, В. Я. \ред.\; Орлова, Е. В. \ред.\; Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР"Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338я431
Рубрики:
Микроскопия электронная--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Баранов, В. Н. \ред.\; Смирнова, Р. С. \ред.\; Стельмащук, В. Я. \ред.\; Орлова, Е. В. \ред.\; Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР"Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

10.

   В33
   М 34

    Матышев, Александр Александрович.
    Изотраекторная корпускулярная оптика : учеб. пособие для вузов по направлению "Техн. физика" / А. А. Матышев; под ред. С. Я. Явор. - СПб. : Наука, 2000. - 375 с. : орн. - Библиогр.: с. 348-369. - ISBN 5-02-024921-1 : Б. ц.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4я7
Рубрики:
Оптика--Учебники и учебные пособия
Электронная оптика--Учебники и учебные пособия
Ионная оптика--Учебники и учебные пособия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Явор, С. Я. \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

11.

   В33
   Х 70

    Хокс, Питер.
    Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина и А .М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. - М. : Мир, 1974. - 319 с. : ил. - Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). - Предм. указ. - Пер. изд. : Electron optics and electron microscopy / P. W. Hawkes. - 5 к. р.
    Содержание:
Пределы применимости светового микроскопа и электронный микроскоп
Электронные линзы
Электронный микроскоп
Растровая электронная микроскопия и исследование поверхностей
Применения

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.2 + В338.48

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Hawkes, P. W.; Стоянова, И. Г. \ред.\; Анаскин, И. Ф. \пер.\; Розенфельд, А. М. \пер.\; Hawkes, P. W.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

12.

   В34
   С 67

    Соул, Х.
    Электроннооптическое фотографирование / Х. Соул ; сокр.пер. с англ. под ред. В. К. Базарова и И. Ф. Усольцева. - М. : Воениздат, 1972. - 404 с. - Пер. изд. : Electrooptical photography at low illumination levels / Harold V. Soul. - Б. ц.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4
Рубрики:
Микроскопия электронная

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Базаров, В. К. \пер.\; Усольцев, И. Ф. \пер.\; Soul, Harold V.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

13.

   В37
   Э 45


    Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки : справ. руководство / под ред. В. М. Косевича и Л. С. Палатника. - М. : Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1976. - 223 с. : фот. - Библиогр.: 153 назв. - 6000 экз. - 1.12 р.
    Содержание:
Вопросы методики расчета дифракционного контраста
Изображение единичных дислокаций
Изображение групп дислокаций
Дислокационные сетки
Дислокации на межфазных и межкристаллитных границах
Особые дислокационные конфигурации
Дислокационные петли
Изображение дефектов упаковки
Частичные дислокации
Уточнение индицирования электронограмм и определение по кикучи-линиям ориентировки кристаллов

ГРНТИ

29.19.11

29.35.43

ББК В371.231.3я22 + В371.214.4я22

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Косевич, Вадим Маркович \ред.\; Палатник, Лев Самойлович \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

14.

   В33
   Р 24


    Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ. / ред. пер. Т. П. Каминская ; пер.: С. А. Иванов, К. И. Домкин. - М. : БИНОМ. Лаб. знаний, 2013. - 582 с. : ил. + 25 см. - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8. - Пер. изд. : Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications / Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. - 2006. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 1320.00 р.
    Содержание:
Основы растровой электронной микроскопии

ГРНТИ

29.35.43

29.19.22

ББК В338.48 + Ж36-1с + Ж607с
Рубрики:
Наноструктуры--Исследование--Методы
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Применение--Нанотехнологии

Content,
Содержание,
Глава 1
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Каминская, Т. П. \ред. пер.\; Иванов, С. А. \пер.\; Домкин, К. И. \пер.\; Weili Zhou, ed.; Zhong Lin Wang, ed.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

15.

   В33
   П 26

    "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине", республиканская научно-техническая конференция (1 ; 1975 ; окт. ; Харьков).
    Первая республиканская научно-техническая конференция "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине" : тез. докл. Секция 2. Применение электронной микроскопии в биологии и медицине / М-во здравоохранения УССР, Ин-т проблем материаловедения, Харьк. обл. совет НТО. - Киев : [б. и.], 1975. - 92 с. - 500 экз. - Б. ц.

ГРНТИ

29.35.43

34.05.25

76.13.15

ББК В338.4я431

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Министерство здравоохранения Украинской ССР; Академия наук Украинской ССР; Институт проблем материаловедения АН Украинской ССР; Харьковский областной совет Украинского республиканского правления НТО РЭиС им. А. С. Попова. Дом техники
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

16.

   В33
   О-75


    Основы аналитической электронной микроскопии / [Ньюбури Д. Е., Каули Дж. М., Вильямс Д. Б. и др.] ; под ред. Дж. Дж. Грен [и др.] ; пер. с англ. под ред. М. П. Усикова. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : граф., табл., фото. - Авт. указ. в огл. - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 576-578 (31 назв.). - 1800 экз. - 7.40 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4
Рубрики:
Электронная микроскопия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Ньюбури, Д. Е.; Каули, Дж. М.; Вильямс, Д. Б.; Грен, Дж. Дж. \ред.\; Гольдштейн, Дж. И. \ред.\; Джоя, Д. К. \ред.\; Ромига, А. Д. \ред.\; Усиков, М. П. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

17.

   В33
   Р 76


    XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'99 : тез. докл. / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - Черноголовка : Богородский печатник, 1999. - 145 с. - Библиогр. в конце докл. - Авт. указ.: с. 142-145. - ISBN 5-89589-010-5 : 15.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

29.19.19

ББК В338.4я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (11 ; 1999 ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

18.

   В33
   П 26

    "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине", республиканская научно-техническая конференция (1 ; 1975 ; окт. ; Харьков).
    Первая республиканская научно-техническая конференция "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине" : тез. докл. Секция 1. Применение электронной микроскопии в материаловедении / М-во здравоохранения УССР, Ин-т проблем материаловедения, Харьк. обл. совет НТО. - Киев : [б. и.], 1975. - 78 с. - 500 экз. - Б. ц.

ГРНТИ

29.35.43

19.

   В33
   Р 76


    XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2011. - + 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Библиогр. в конце ст. - Алф. указ.: с. 276-279. - 220 экз. - ISBN 978-5-89589-054-7 : 90 р.
    Содержание:
Приборы и электронная оптика
Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава
Сканирующая зондовая микроскопия
Наноструктуры и нанотехнологии
Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике
Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии
Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии

ГРНТИ

29.31.21

29.35.43

29.31.26

ББК В338.48я431 + В374я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники
Твердое тело--Методы исследования--Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (17 ; 2011 ; 30 мая-2 июня ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (2)}
Найти похожие

20.

   В33
   Р 24

    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1984.
   Кн. 2. - 1984. - 348 с. : ил. - Библиогр.: с. 318-341. - Предм. указ.: с. 342-346. - 3.10 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гоулдстейн, Дж.; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие