Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)

Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-37

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 91
Автор(ы) : Сушкин Н. Г.
Заглавие : Электронный микроскоп
Выходные данные : М.; Л.: Гостехиздат, 1949
Колич.характеристики :276 с.: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 274-276
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Предметные рубрики: Микроскопы электронные
Экземпляры : всего : СЦ(1), Музей(1)
Свободны : СЦ(1), Музей(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/С 67
Автор(ы) : Соул Х.
Заглавие : Электроннооптическое фотографирование
Выходные данные : М.: Воениздат, 1972
Колич.характеристики :404 с
Перевод издания: Soul, Harold V. Electrooptical photography at low illumination levels
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Э 45
Заглавие : Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки : справ. руководство
Выходные данные : М.: Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1976
Колич.характеристики :223 с.: фот.
Примечания : Библиогр.: 153 назв.
Цена : 1.12 р.
ГРНТИ : 29.19.11 + 29.35.43
ББК : В371.231.3я22 + В371.214.4я22
Содержание : Вопросы методики расчета дифракционного контраста ; Изображение единичных дислокаций ; Изображение групп дислокаций ; Дислокационные сетки ; Дислокации на межфазных и межкристаллитных границах ; Особые дислокационные конфигурации ; Дислокационные петли ; Изображение дефектов упаковки ; Частичные дислокации ; Уточнение индицирования электронограмм и определение по кикучи-линиям ориентировки кристаллов
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Х 70
Автор(ы) : Хокс, Питер, Hawkes, P. W.
Заглавие : Электронная оптика и электронная микроскопия
Выходные данные : М.: Мир, 1974
Колич.характеристики :319 с.: ил.
Перевод издания: Hawkes P. W. Electron optics and electron microscopy
Примечания : Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). - Предм. указ.
Цена : 5 к. р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.2 + В338.48
Содержание : Пределы применимости светового микроскопа и электронный микроскоп ; Электронные линзы ; Электронный микроскоп ; Растровая электронная микроскопия и исследование поверхностей ; Применения
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Э 45
Автор(ы) : Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М.
Заглавие : Электронная микроскопия тонких кристаллов : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Мир, 1968
Колич.характеристики :574 с
Перевод издания: Hirsh P. B. Electron microscopy of thin crystals/ P. B. Hirsh, A. Howie, R. B. Nicholson. -London, 1965
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.
Цена : 3.44 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В371.26 + В338.48
Предметные рубрики: Кристаллы-- Микроскопия электронная
Микроскопы электронные-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Л 42
Автор(ы) : Лейзеганг З.
Заглавие : Электронная микроскопия
Выходные данные : М.: Изд-во иностр. лит., 1960
Колич.характеристики :240 с
Перевод издания: Leisegandg S. Elektronenmikroskope. -Berlin, 1956
Примечания : Библиогр.: с. 231-238
Цена : 1.21 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание (Препринт)
Шифр издания : В33/О-92
Автор(ы) : Охонин В. А.
Заглавие : Физические основы оптической микроскопии с разрешением деталей, много меньших длины волны : препринт. № 65Б
Выходные данные : Красноярск: ИФ СО АН СССР, 1987
Колич.характеристики :16 с
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения АН СССР
Примечания : Библиогр.: 2 назв. - ДСП :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Экземпляры : всего : Препр.(2)
Свободны : Препр.(2)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 82
Автор(ы) : Стоянова, Инна Григорьевна, Анаскин, Иван Филлипович
Заглавие : Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии
Выходные данные : М.: Наука, 1972
Колич.характеристики :371 с.: граф., рис., табл.
Коллективы : Академия наук СССР, Научный совет по проблемам биофизики АН СССР
Разночтения заглавия :Загл. на корешке: Физические основы методов электронной микроскопии
Примечания : Библиогр.: с. 357-363 (281 назв.). - Предм. указ.: с. 364-367
Цена : 1.70 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Предметные рубрики: Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Ф 83
Автор(ы) : Франсон, Морис
Заглавие : Фазово-контрастный и интерференционный микроскопы
Выходные данные : М.: Гос. изд-во физ.-мат. лит., 1960
Колич.характеристики :180 с.: граф., фот., рис. + 1 вкл. л. цв. ил.
Перевод издания: Françon, Maurice Le microscope à contraste de phase et le microscope interférentiel. -1954
Примечания : Библиогр.: с. 166-180
Цена : 6.45 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Микроскопы электронные-- Физические основы
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

10.

(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Т 38
Заглавие : Техника электронной микроскопии : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Мир, 1965
Колич.характеристики :406 с
Перевод издания: Kay Desmond, ed. Techniques for electron microscopy. -Oxford, 1961
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие

11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 74
Заглавие : Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Научный мир, 2011
Колич.характеристики :711 с.: ил.; 27 см.
Коллективы : Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники
Перевод издания: Handbook of microscopy for nanotechnology. -Boston, 2005
Примечания : Библиогр. в конце разд. - На корешке авт.: Нан Яо, Чжун Лин Ван
ISBN, Цена 978-5-91522-232-7:
ГРНТИ : 81.13.13 + 29.35.43
ББК : В338.48я22 + Ж6-1в672я22
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение-- Наноуровень
Содержание : Оптическая микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, ионная микроскопия и нанопроизводство ; Электронная микроскопия
Экземпляры :ЧЗ(1)
Свободны : ЧЗ(1)
Найти похожие

12.

(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : В33/С 42
Автор(ы) : Криштал, Михаил Михайлович, Ясников, Игорь Станиславович, Полунин, Виктор Иванович, Филатов, Анатолий Михайлович, Ульяненков, Александр Георгиевич
Заглавие : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Техносфера, 2009
Колич.характеристики :206 с
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 55-56 (10 назв.).
ISBN, Цена 978-5-94836-200-7: 330.31 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 31.19
ББК : В338.38я73 + Ж3-1с5я73
Предметные рубрики: Твердое тело-- Методы исследования-- Учебники и учебные пособия
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие

13.

(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Автор(ы) :
Заглавие : Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в 2 кн./ Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. c англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. Кн. 1
Выходные данные : М.: Мир, 1984
Колич.характеристики :303 с.: ил.
Примечания : Загл. парал. англ.
Цена : 3.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие

14.

(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Автор(ы) :
Заглавие : Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в 2 кн./ Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. Кн. 2
Выходные данные : М.: Мир, 1984
Колич.характеристики :348 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 318-341. - Предм. указ.: с. 342-346
Цена : 3.10 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие

15.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Заглавие : Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ.
Выходные данные : М.: БИНОМ. Лаб. знаний, 2013
Колич.характеристики :582 с.: ил. + 25 см
Перевод издания: Weili Zhou, ed. Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications/ Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. -2006
Примечания : Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8
ISBN, Цена 978-5-9963-1110-1: 1320.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 29.19.22
ББК : В338.48 + Ж36-1с + Ж607с
Предметные рубрики: Наноструктуры-- Исследование-- Методы
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Применение-- Нанотехнологии
Содержание : Основы растровой электронной микроскопии
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Content,
Содержание,
Глава 1
Найти похожие

16.

(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Т 56
Автор(ы) : Томас, Гарет, Гориндж, Майкл Д.
Заглавие : Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Наука, 1983
Колич.характеристики :317 с.: ил.
Перевод издания: Tomas, Gareth Transmission electron microscopy of materials/ Gareth Tomas, Michael J. Goringe
Примечания : Библиогр.: с. 310-317
Цена : 3.90 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 31.19
ББК : В338.48 + В338.38 + Ж3-1с5
Предметные рубрики: Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие

17.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/П 26
Заглавие : Первая республиканская научно-техническая конференция "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине" : тез. докл. Секция 1 : Применение электронной микроскопии в материаловедении
Выходные данные : Киев, 1975
Колич.характеристики :78 с
Коллективы : "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине", республиканская научно-техническая конференция(1;1975 ; окт.;Харьков), Министерство здравоохранения Украинской ССР, Академия наук Украинской ССР, Институт проблем материаловедения АН Украинской ССР, Харьковский областной совет Украинского республиканского правления НТО РЭиС им. А. С. Попова. Дом техники :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

18.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/П 26
Заглавие : Первая республиканская научно-техническая конференция "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине" : тез. докл. Секция 2 : Применение электронной микроскопии в биологии и медицине
Выходные данные : Киев, 1975
Колич.характеристики :92 с
Коллективы : "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине", республиканская научно-техническая конференция(1;1975 ; окт.;Харьков), Министерство здравоохранения Украинской ССР, Академия наук Украинской ССР, Институт проблем материаловедения АН Украинской ССР, Харьковский областной совет Украинского республиканского правления НТО РЭиС им. А. С. Попова. Дом техники :
ГРНТИ : 29.35.43 + 34.05.25 + 76.13.15
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

19.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/О-75
Автор(ы) : Ньюбури Д. Е., Каули Дж. М., Вильямс Д. Б.
Заглавие : Основы аналитической электронной микроскопии
Выходные данные : М.: Металлургия, 1990
Колич.характеристики :584 с.: граф., табл., фото
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 576-578 (31 назв.). - Авт. указ. в огл.
Цена : 7.40 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Электронная микроскопия
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

20.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Ш 61
Автор(ы) : Шиммель Г.
Заглавие : Методика электронной микроскопии : пер. с нем.
Выходные данные : М.: Мир, 1972
Колич.характеристики :300 с.: ил.
Перевод издания: Schimmel G. Von Elektronenmikroskopische methodik
Примечания : Библиогр.: с. 285-292. - Указ. авт. и предм.: с. 293-297
Цена : 1.62 р.
ГРНТИ : 31.19 + 29.35.43
ББК : В338.48 + Ж3-1
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие