Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)

Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-37

Вид документа : Однотомное издание (Препринт)
Шифр издания : В33/О-92
Автор(ы) : Охонин В. А.
Заглавие : Физические основы оптической микроскопии с разрешением деталей, много меньших длины волны : препринт. № 65Б
Выходные данные : Красноярск: ИФ СО АН СССР, 1987
Колич.характеристики :16 с
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения АН СССР
Примечания : Библиогр.: 2 назв. - ДСП :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Экземпляры : всего : Препр.(2)
Свободны : Препр.(2)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Д 50
Автор(ы) : Болдырев, Владимир Вячеславович, Ляхов Н. З., Толочко Б. П.
Заглавие : Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения
Выходные данные : Новосибирск: Наука, Сиб. отд-ние, 1989
Колич.характеристики :143 с
Коллективы : Академия наук СССР, Сибирское отделение АН СССР, Институт биофизики Сибирского отделения РАН, Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья Сибирского отделения АН СССР, Институт ядерной физики Сибирского отделения АН СССР
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 141-143
ISBN, Цена 5-02-028690-7: 2.10 р.
ГРНТИ : 29.19.19 + 29.35.43
ББК : В338 + В371.21 + Г461.4
Предметные рубрики: Кристаллы-- Структура-- Методы исследования-- Рентгеноструктурный анализ
Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/П 38
Автор(ы) : Плескова, Светлана Николаевна
Заглавие : Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях : учебное пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2011
Колич.характеристики :183 с
Примечания : Библиогр.: с. 173-183
ISBN, Цена 978-5-91559-108-9: 550.00 р.
ГРНТИ : 34.05 + 29.35.43
ББК : В338.48 + Г461.31
Предметные рубрики: Микроскопия сканирующая зондовая-- Методы-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 74
Заглавие : Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Научный мир, 2011
Колич.характеристики :711 с.: ил.; 27 см.
Коллективы : Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники
Перевод издания: Handbook of microscopy for nanotechnology. -Boston, 2005
Примечания : Библиогр. в конце разд. - На корешке авт.: Нан Яо, Чжун Лин Ван
ISBN, Цена 978-5-91522-232-7:
ГРНТИ : 81.13.13 + 29.35.43
ББК : В338.48я22 + Ж6-1в672я22
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение-- Наноуровень
Содержание : Оптическая микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, ионная микроскопия и нанопроизводство ; Электронная микроскопия
Экземпляры :ЧЗ(1)
Свободны : ЧЗ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/И 91
Заглавие : Источники заряженных частиц с плазменным эмиттером
Выходные данные : Екатеринбург: Наука, 1993
Колич.характеристики :149 с.: ил.
Коллективы : Российская академия наук, Уральское отделение АН СССР, Институт электрофизики Уральского отделения РАН, Сибирское отделение РАН, Институт сильноточной электроники Сибирского отделения РАН
Примечания : Парал. тит. л. на англ. яз. - Библиогр.: с.144-146
ISBN, Цена 5-7691-0381-7:
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.411
Содержание : Физика электронных источников с высокой яркостью пучка на основе отражательного разряда с полым катодом , Б. А. Бурдовицин, В. Л. Галанский; Электронные источники с плазменными катодами для получения пучков большого сечения , Н. В. Гаврилов, В. И. Гушенец; Источники ионов технологического назначения на основе разрядов с холодными катодами , Н. В. Гаврилов, Е. М. Окс; Теоретические аспекты формирования разрядов низкого давления для плазменной эмиссионной электроники , М. Ю. Крейндель, Е. А. Литвинов
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : 16-18 окт. 1979 г., г. Таллин : тезисы докл. Т. 3
Выходные данные : М., 1979
Колич.характеристики :172 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце докл. - На рус. и англ. яз. :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 24
Автор(ы) : Свищев, Георгий Михайлович
Заглавие : Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки
Выходные данные : М.: Физматлит, 2011
Колич.характеристики :120 с. + 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 117-120
ISBN, Цена 978-5-9221-1320-5: 198.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.38
Предметные рубрики: Микроскопия электронная сканирующая-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 1 : Физика
Выходные данные : М.: Наука, 1979
Колич.характеристики :336 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 324-334 :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338я431 + В371.215я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Сборники
Содержание : Электронная оптика и приборостроение ; Микродифракция и структурный анализ в электронной микроскопии ; Методы электронно-зондовых исследований ; Тонкие пленки, поверхностные свойства и кристаллизация ; Дифракционный контраст ; Металлы и сплавы ; Минералы ; Полимеры, коллоидные сисетмы, аэрозоли
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/В 85
Заглавие : XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 2 : Биология
Выходные данные : М.: Наука, 1979
Колич.характеристики :268 с
Коллективы : Всесоюзная конференция по электронной микроскопии(11;1979 ; окт. ; 16-18;Таллин), Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии АН СССР, Институт кристаллографии АН СССР, Академия наук Эстонской ССР, "Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение, "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 261-267 :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Сборники
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/М 34
Автор(ы) : Матышев, Александр Александрович
Заглавие : Изотраекторная корпускулярная оптика : учеб. пособие для вузов по направлению "Техн. физика"
Выходные данные : СПб.: Наука, 2000
Колич.характеристики :375 с.: орн.
Примечания : Библиогр.: с. 348-369
ISBN, Цена 5-02-024921-1: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я7
Предметные рубрики: Оптика-- Учебники и учебные пособия
Электронная оптика-- Учебники и учебные пособия
Ионная оптика-- Учебники и учебные пособия
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Х 70
Автор(ы) : Хокс, Питер, Hawkes, P. W.
Заглавие : Электронная оптика и электронная микроскопия
Выходные данные : М.: Мир, 1974
Колич.характеристики :319 с.: ил.
Перевод издания: Hawkes P. W. Electron optics and electron microscopy
Примечания : Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). - Предм. указ.
Цена : 5 к. р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.2 + В338.48
Содержание : Пределы применимости светового микроскопа и электронный микроскоп ; Электронные линзы ; Электронный микроскоп ; Растровая электронная микроскопия и исследование поверхностей ; Применения
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/С 67
Автор(ы) : Соул Х.
Заглавие : Электроннооптическое фотографирование
Выходные данные : М.: Воениздат, 1972
Колич.характеристики :404 с
Перевод издания: Soul, Harold V. Electrooptical photography at low illumination levels
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

13.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Э 45
Заглавие : Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки : справ. руководство
Выходные данные : М.: Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1976
Колич.характеристики :223 с.: фот.
Примечания : Библиогр.: 153 назв.
Цена : 1.12 р.
ГРНТИ : 29.19.11 + 29.35.43
ББК : В371.231.3я22 + В371.214.4я22
Содержание : Вопросы методики расчета дифракционного контраста ; Изображение единичных дислокаций ; Изображение групп дислокаций ; Дислокационные сетки ; Дислокации на межфазных и межкристаллитных границах ; Особые дислокационные конфигурации ; Дислокационные петли ; Изображение дефектов упаковки ; Частичные дислокации ; Уточнение индицирования электронограмм и определение по кикучи-линиям ориентировки кристаллов
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

14.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Заглавие : Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ.
Выходные данные : М.: БИНОМ. Лаб. знаний, 2013
Колич.характеристики :582 с.: ил. + 25 см
Перевод издания: Weili Zhou, ed. Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications/ Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. -2006
Примечания : Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8
ISBN, Цена 978-5-9963-1110-1: 1320.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 29.19.22
ББК : В338.48 + Ж36-1с + Ж607с
Предметные рубрики: Наноструктуры-- Исследование-- Методы
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Применение-- Нанотехнологии
Содержание : Основы растровой электронной микроскопии
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Content,
Содержание,
Глава 1
Найти похожие

15.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/П 26
Заглавие : Первая республиканская научно-техническая конференция "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине" : тез. докл. Секция 2 : Применение электронной микроскопии в биологии и медицине
Выходные данные : Киев, 1975
Колич.характеристики :92 с
Коллективы : "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине", республиканская научно-техническая конференция(1;1975 ; окт.;Харьков), Министерство здравоохранения Украинской ССР, Академия наук Украинской ССР, Институт проблем материаловедения АН Украинской ССР, Харьковский областной совет Украинского республиканского правления НТО РЭиС им. А. С. Попова. Дом техники :
ГРНТИ : 29.35.43 + 34.05.25 + 76.13.15
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

16.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/О-75
Автор(ы) : Ньюбури Д. Е., Каули Дж. М., Вильямс Д. Б.
Заглавие : Основы аналитической электронной микроскопии
Выходные данные : М.: Металлургия, 1990
Колич.характеристики :584 с.: граф., табл., фото
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 576-578 (31 назв.). - Авт. указ. в огл.
Цена : 7.40 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Электронная микроскопия
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

17.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'99 : тез. докл.
Выходные данные : Черноголовка: Богородский печатник, 1999
Колич.характеристики :145 с
Коллективы : Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (11; 1999; Черноголовка)
Примечания : Библиогр. в конце докл. - Авт. указ.: с. 142-145
ISBN, Цена 5-89589-010-5:
ГРНТИ : 29.35.43 + 29.19.19
ББК : В338.4я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

18.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/П 26
Заглавие : Первая республиканская научно-техническая конференция "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине" : тез. докл. Секция 1 : Применение электронной микроскопии в материаловедении
Выходные данные : Киев, 1975
Колич.характеристики :78 с
Коллективы : "Применение электронной микроскопии в материаловедении, биологии и медицине", республиканская научно-техническая конференция(1;1975 ; окт.;Харьков), Министерство здравоохранения Украинской ССР, Академия наук Украинской ССР, Институт проблем материаловедения АН Украинской ССР, Харьковский областной совет Украинского республиканского правления НТО РЭиС им. А. С. Попова. Дом техники :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие

19.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка: ИПТМ РАН, 2011
Колич.характеристики : + 1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Коллективы : Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (17; 2011 ; 30 мая-2 июня; Черноголовка)
Примечания : Библиогр. в конце ст.Алф. указ.: с. 276-279
ISBN, Цена 978-5-89589-054-7:
ГРНТИ : 29.31.21 + 29.35.43 + 29.31.26
ББК : В338.48я431 + В374я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Твердое тело-- Методы исследования-- Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Содержание : Приборы и электронная оптика ; Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава ; Сканирующая зондовая микроскопия ; Наноструктуры и нанотехнологии ; Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике ; Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии ; Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие

20.

(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Автор(ы) :
Заглавие : Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в 2 кн./ Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. Кн. 2
Выходные данные : М.: Мир, 1984
Колич.характеристики :348 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 318-341. - Предм. указ.: с. 342-346
Цена : 3.10 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие