Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН
Труды сотрудников ИФ СО РАН
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Труды сотрудников ИФ СО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)
Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 20
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В32/М13
Автор(ы) : Маев, Роман Григорьевич
Заглавие : Акустическая микроскопия
Выходные данные : М.: ТОРУС ПРЕСС, 2005
Колич.характеристики :383 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 326-379. - Предисл. и оглав. на англ. и рус. яз.
ISBN, Цена 5-94588-031-0: 150.00 р.
ГРНТИ : 29.37.23 + 29.35.43
ББК : В321 + В341.9
Предметные рубрики: Микроскопия акустическая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : В33/С38
Автор(ы) : Синдо, Дайзуке, Оикава, Тецуо
Заглавие : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Выходные данные : М.: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :253 с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Перевод издания: Shindo D. Analytical Electron Microscopy for Materials Science/ D. Shindo, T. Oikawa
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 5-94836-064-4 :
ГРНТИ : 29.31.26 + 29.31.29 + 29.35.43 + 81.09.03
ББК : В338.48 + Ж3-1с + В344
Предметные рубрики: Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVIII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 5 июня-8 июля 1998 г. : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка, 2000
Колич.характеристики :338 с
Коллективы : Российская конференция по электронной микроскопии(18;2000), Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Примечания : Имен. указ.
ISBN, Цена 5-89589-020-2: 76.80 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVII Российская конференция по электронной микроскопии. ЭМ'98. 15 июня - 18 июня 1998 г. : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка, 1998
Колич.характеристики :325 с
Коллективы : Российская конференция по электронной микроскопии(17;1998), Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
Примечания : Имен. указ.
ISBN, Цена 5-89589-004-0: 25.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4я431
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
5.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : В33/С 42
Автор(ы) : Криштал, Михаил Михайлович, Ясников, Игорь Станиславович, Полунин, Виктор Иванович, Филатов, Анатолий Михайлович, Ульяненков, Александр Георгиевич
Заглавие : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Техносфера, 2009
Колич.характеристики :206 с
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 55-56 (10 назв.).
ISBN, Цена 978-5-94836-200-7: 330.31 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 31.19
ББК : В338.38я73 + Ж3-1с5я73
Предметные рубрики: Твердое тело-- Методы исследования-- Учебники и учебные пособия
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие
6.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Автор(ы) :
Заглавие : Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в 2 кн./ Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. c англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. Кн. 1
Выходные данные : М.: Мир, 1984
Колич.характеристики :303 с.: ил.
Примечания : Загл. парал. англ.
Цена : 3.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие
7.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Автор(ы) :
Заглавие : Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в 2 кн./ Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой под ред. В. И. Петрова. Кн. 2
Выходные данные : М.: Мир, 1984
Колич.характеристики :348 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 318-341. - Предм. указ.: с. 342-346
Цена : 3.10 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48 + В344.1-141 + Г461.4-6
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)
Рентгеноструктурный анализ
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие
8.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Т 56
Автор(ы) : Томас, Гарет, Гориндж, Майкл Д.
Заглавие : Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Наука, 1983
Колич.характеристики :317 с.: ил.
Перевод издания: Tomas, Gareth Transmission electron microscopy of materials/ Gareth Tomas, Michael J. Goringe
Примечания : Библиогр.: с. 310-317
Цена : 3.90 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 31.19
ББК : В338.48 + В338.38 + Ж3-1с5
Предметные рубрики: Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Ш 61
Автор(ы) : Шиммель Г.
Заглавие : Методика электронной микроскопии : пер. с нем.
Выходные данные : М.: Мир, 1972
Колич.характеристики :300 с.: ил.
Перевод издания: Schimmel G. Von Elektronenmikroskopische methodik
Примечания : Библиогр.: с. 285-292. - Указ. авт. и предм.: с. 293-297
Цена : 1.62 р.
ГРНТИ : 31.19 + 29.35.43
ББК : В338.48 + Ж3-1
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Э 45
Автор(ы) : Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М.
Заглавие : Электронная микроскопия тонких кристаллов : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Мир, 1968
Колич.характеристики :574 с
Перевод издания: Hirsh P. B. Electron microscopy of thin crystals/ P. B. Hirsh, A. Howie, R. B. Nicholson. -London, 1965
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.
Цена : 3.44 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В371.26 + В338.48
Предметные рубрики: Кристаллы-- Микроскопия электронная
Микроскопы электронные-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
11.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Т 38
Заглавие : Техника электронной микроскопии : пер. с англ.
Выходные данные : М.: Мир, 1965
Колич.характеристики :406 с
Перевод издания: Kay Desmond, ed. Techniques for electron microscopy. -Oxford, 1961
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Найти похожие
12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Ф 83
Автор(ы) : Франсон, Морис
Заглавие : Фазово-контрастный и интерференционный микроскопы
Выходные данные : М.: Гос. изд-во физ.-мат. лит., 1960
Колич.характеристики :180 с.: граф., фот., рис. + 1 вкл. л. цв. ил.
Перевод издания: Françon, Maurice Le microscope à contraste de phase et le microscope interférentiel. -1954
Примечания : Библиогр.: с. 166-180
Цена : 6.45 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Микроскопы электронные-- Физические основы
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
13.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Л 42
Автор(ы) : Лейзеганг З.
Заглавие : Электронная микроскопия
Выходные данные : М.: Изд-во иностр. лит., 1960
Колич.характеристики :240 с
Перевод издания: Leisegandg S. Elektronenmikroskope. -Berlin, 1956
Примечания : Библиогр.: с. 231-238
Цена : 1.21 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
14.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 91
Автор(ы) : Сушкин Н. Г.
Заглавие : Электронный микроскоп
Выходные данные : М.; Л.: Гостехиздат, 1949
Колич.характеристики :276 с.: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 274-276
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Предметные рубрики: Микроскопы электронные
Экземпляры : всего : СЦ(1), Музей(1)
Свободны : СЦ(1), Музей(1)
Найти похожие
15.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/Р 62
Автор(ы) : Рождественский, Дмитрий Сергеевич
Заглавие : Избранные труды
Выходные данные : М.; Л.: Наука, 1964
Колич.характеристики :349 с.: портр., рис., фот. + 1 вклеен. л.
Примечания : Список трудов Д. С. Рождественского: с. 345-347
Цена : 2.32 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В344я44 + В341.1я44
Содержание : Работы по теории спектров ; Работы по теории спектральных приборов ; Работы по теории микроскопа ; Работы Д. С. Рождественского в области микроскопии/ В. П. Линник. Работы по оптическому стеклу ; Деятельность Д. С. Рождественского в области оптического стекла/ А. А. Лебедев. Речи, доклады, статьи
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
16.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/М 98
Автор(ы) : Мюллер Э., Цонь Т.
Заглавие : Автоионная микроскопия (принципы и применение)
Выходные данные : М.: Металлургия, 1972
Колич.характеристики :360 с.: ил
Перевод издания: Müller E. W. Field ion microscopy. Principles and applications/ E. W. Müller, T. T. Tsong. -New York, 1969
Примечания : Библиогр.: с. 354-360. - Библиогр. в конце глав
Цена : 2.54 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Предметные рубрики: Микроскопия электронная-- Методы-- Применение
Микроскопия ионная-- Методы-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
17.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 82
Автор(ы) : Стоянова, Инна Григорьевна, Анаскин, Иван Филлипович
Заглавие : Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии
Выходные данные : М.: Наука, 1972
Колич.характеристики :371 с.: граф., рис., табл.
Коллективы : Академия наук СССР, Научный совет по проблемам биофизики АН СССР
Разночтения заглавия :Загл. на корешке: Физические основы методов электронной микроскопии
Примечания : Библиогр.: с. 357-363 (281 назв.). - Предм. указ.: с. 364-367
Цена : 1.70 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Предметные рубрики: Микроскопия электронная просвечивающая
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
18.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка: ИПТМ РАН, 2013
Колич.характеристики :518 с. ; 21 см
Коллективы : Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (18; 2013 ; 3-7 июня; Черноголовка)
Примечания : Библиогр. в конце ст.Алф. указ.: с. 276-279
ISBN, Цена 978-5-89589-065-3:
ГРНТИ : 29.31.21 + 29.35.43 + 29.31.26
ББК : В338.48я431 + В374я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Твердое тело-- Методы исследования-- Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
19.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 76
Заглавие : XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов
Выходные данные : Черноголовка: ИПТМ РАН, 2011
Колич.характеристики : + 1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Коллективы : Российская академия наук, Научный совет по электронной микроскопии РАН, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (17; 2011 ; 30 мая-2 июня; Черноголовка)
Примечания : Библиогр. в конце ст.Алф. указ.: с. 276-279
ISBN, Цена 978-5-89589-054-7:
ГРНТИ : 29.31.21 + 29.35.43 + 29.31.26
ББК : В338.48я431 + В374я431
Предметные рубрики: Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Твердое тело-- Методы исследования-- Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Сборники
Содержание : Приборы и электронная оптика ; Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава ; Сканирующая зондовая микроскопия ; Наноструктуры и нанотехнологии ; Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике ; Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии ; Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие
20.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/С 24
Автор(ы) : Свищев, Георгий Михайлович
Заглавие : Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки
Выходные данные : М.: Физматлит, 2011
Колич.характеристики :120 с. + 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 117-120
ISBN, Цена 978-5-9221-1320-5: 198.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.38
Предметные рубрики: Микроскопия электронная сканирующая-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор

Другие библиотеки

Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)