Поисковый запрос: (<.>R=47.29.39$<.>) |
Общее количество найденных документов : 51
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : В37/К 82
Автор(ы) : Кривоглаз, Михаил Александрович
Заглавие : Теория рассеяния рентгеновских лучей и тепловых нейтронов реальными кристаллами
Выходные данные : М.: Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1967 Колич.характеристики :336 с
Примечания : Библиогр.: 424 назв.
Цена : 1.45 р.
ГРНТИ : 31.15.17 + 38.41.21 + 47.29.39 + 29.19.04 ББК : В371.21 + В386.25 + В361 Предметные рубрики: Кристаллы-- Методы исследования
Экземпляры :КФ(1) Свободны : КФ(1) Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Шифр издания : В34/К 63
Автор(ы) : Комяк, Николай Иванович, Мясников, Юрий Гиларьевич
Заглавие : Рентгеновские методы и аппаратура для определения напряжений
Выходные данные : Л.: Машиностроение, 1972 Колич.характеристики :88 с.:
рис., фот.
Серия: Специальное конструкторское бюро рентгеновской аппаратуры
Цена : 0.35 р.
ГРНТИ : 47.29.39 + 53.49.19 + 29.31.26 ББК : В344.1-141 + З995 Содержание : Рентгеновский метод определения напряжений ; Экспериментальные методы получения дифракционной картины ; Рентгеновская аппаратура для определения напряжения в промышленных условиях
Экземпляры :КФ(1) Свободны : КФ(1) Найти похожие
|
3.
|
(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : В34/Ш 72
Автор(ы) : Шмелев, Владимир Константинович
Заглавие : Рентгеновские аппараты
. -Изд. 3-е, перераб. и доп. Выходные данные : М.: Госэнергоиздат, 1957 Колич.характеристики :472 с.:
ил.
Примечания : Библиогр.: с. 452-467. - Алф. указ.: с. 468-470
:
ГРНТИ : 38.41.21 + 47.29.39 + 41.51.31 ББК : В344.1-141я43 + З995я43 Предметные рубрики: Спектроскопия рентгеновская (X-rays)-- Приборы-- Cборники
Экземпляры :КФ(1) Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : В34/Ш 72
Автор(ы) : Шмелев, Владимир Константинович
Заглавие : Рентгеновские аппараты
. -Изд. 4-е, перераб. Выходные данные : М.: Энергия, 1973 Колич.характеристики :472 с.:
ил.
Примечания : Библиогр.: с. 452-467. - Алф. указ.: с. 468-470
:
ГРНТИ : 38.41.21 + 47.29.39 + 41.51.31 ББК : В344.1-141я43 + З995я43 Предметные рубрики: Спектроскопия рентгеновская (X-rays)-- Приборы-- Cборники
Экземпляры :КФ(1) Свободны : КФ(1) Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Монографическая серия Шифр издания : В37/Х 35
Автор(ы) : Хейкер, Даниэль Моисеевич, Зевин, Лев Саулович
Заглавие : Рентгеновская дифрактометрия
Выходные данные : М.: Физматгиз, 1963 Колич.характеристики :380 с.:
ил
Серия: Физико-математическая библиотека инженера
Примечания : Библиогр.: с. 370-380
:
ГРНТИ : 29.19.04 + 47.29.39 ББК : В371.23 + В361 Предметные рубрики: Материалы-- Методы исследования Кристаллы-- Методы исследования Содержание : Устройство и работа дифрактометра ; Особенности измерения интенсивности и геометрии дифракционной картины в дифрактометрах ; Фазовый анализ ; Прециозные измерения параметров элементарной ячейки ; Исследование текстуры прокатанных материалов ; Исследование монокристаллов на дифрактометрах
Экземпляры :КФ(1) Свободны : КФ(1) Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : К9/О-62
Заглавие : Оптико-информационные измерительные и лазерные технологии и системы
: Юбилейный сборник избранных трудов
Выходные данные : Новосибирск: Гео, 2012 Колич.характеристики :456 с
Коллективы :
Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.
ISBN, Цена 978-5-904683-00-9: Б.ц.
ГРНТИ : 59.14.23 + 90.03.03 + 47.13.35 + 47.29.39 + 29.03 ББК : К967я43 Предметные рубрики: Приборы научные-- Применение-- Промышленность-- Сборники Измерения-- Методы-- Приборы-- Сборники
Экземпляры :КФ(1) Свободны : КФ(1) Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : В37/К 82
Автор(ы) : Кривоглаз, Михаил Александрович
Заглавие : Диффузное рассеяние рентгеновских лучей и нейтронов на флуктуационных неоднородностях в неидеальных кристаллах
Выходные данные : Киев: Наукова думка, 1984 Колич.характеристики :288 с
Коллективы :
Академия наук Украинской ССР, Институт металлофизики АН Украинской ССР
Цена : 3.50 р.
ГРНТИ : 31.15.17 + 38.41.21 + 47.29.39 + 29.19.04 ББК : В371.21 Предметные рубрики: Кристаллы-- Структура-- Методы исследования-- Рентгеноструктурный анализ Содержание : Флуктуационные волны состава и параметров порядка ; Влияние дальнодействующих сил на флуктуации в кристаллах и образование гетерогенных состояний ; Диффузное рассеяние рентгеновских лучей и нейтронов в твердых растворах и однокомпонентных упорядочивающихся кристаллах ; Аномальное рассеяние вблизи точек фазового перехода второго рода и критических точек ; Вычисление средних квадратов компонент Фурье и микроскопической теории
Экземпляры : всего : КФ(2) Свободны : КФ(2) Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : В37/Б86
Автор(ы) : Боуэн Д. К., Таннер Б. К.
Заглавие : Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография
: пер. с англ.
Выходные данные : СПб.: Наука, 2002 Колич.характеристики :274 с.:
ил
Перевод издания: High Resolution X-Ray Difractometry and Topography. -London, 1998
Примечания : Библиогр.: с. 269-270.Пред.ук.с271-274
ISBN, Цена 5-02-024963-7:
ГРНТИ : 29.19.04 + 47.29.39 ББК : В371.23 + В361 Предметные рубрики: Материалы-- Методы исследования Кристаллы-- Методы исследования
Экземпляры : всего : КФ(2) Свободны : КФ(1) Смотреть книгу Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Монографическая серия Шифр издания : В37/Б 94
Автор(ы) : Бушуев, Владимир Алексеевич, Кузьмин, Рунар Николаевич
Заглавие : Вторичные процессы в рентгеновской оптике
: [учеб пособие]
Выходные данные : М.: Изд-во МГУ, 1990 Колич.характеристики :112 с.:
ил.
Коллективы :
Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова. Физический факультет Серия: Физика
Примечания : Библиогр.: с. 102-111
ISBN, Цена 5-211-01942-3: 0.20 р.
ГРНТИ : 31.15.17 + 38.41.21 + 47.29.39 + 29.19.04 ББК : В371.27я73 + В371.21я73 + В386.25я73 + В361я73
Экземпляры :КФ(1) Свободны : КФ(1) Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Монографическая серия Шифр издания : В34/У 52
Автор(ы) : Уманский, Марк Моисеевич
Заглавие : Аппаратура рентгеноструктурных исследований
Выходные данные : М.: Физматгиз, 1960 Колич.характеристики :348 с.:
ил
Серия: Физико-математическая библиотека инженера
Примечания : Библиогр.: с. 340-346 (164 назв.)
:
ГРНТИ : 38.41.21 + 47.29.39 + 41.51.31 ББК : В344.1-141 + З995 + Г461.4 Предметные рубрики: Спектроскопия рентгеновская (X-rays)-- Приборы Рентгеноструктурный анализ Содержание : Некоторые вопросы конструкции рентгеновских камер ; Некоторые узлы и детали камер ; Камеры для рентгеносъемки поликристаллов ; Камеры для рентгеносъемки монокристаллов ; Рентгенгониометрические методы исследования ; Рентгенгониометрические методы исследования. Дифрактометры для монокристаллов ; Рентгеноанализ с помощью монохроматизированного излучения ; Рентгеносъемка при особых температурных условиях ; Рентгеноанализ неограненных кристаллов ; Прецизионные определения параметров элементарной ячейки
Экземпляры :КФ(1) Свободны : КФ(1) Найти похожие
|
|
|