Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=90.03.03$<.>)

Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8

Фридман А. Э. Основы метрологии. Современный курс/А. Э. Фридман. - 2008

Головин Ю. И. Наноиндентирование и его возможности/Ю. И. Головин. - 2009

Артемьев Б. Г. Поверка и калибровка средств измерений/Б.Г. Артемьев, Ю.Е. Лукашов. - 2006

Точные измерения для высоких технологий/П. А. Красовский [и др.] ; ред. П. А. Красовский. - 2008

Лич Р. Инженерные основы измерений нанометровой точности/Р. Лич ; пер. А. В. Заблоцкий. - 2012

Оптико-информационные измерительные и лазерные технологии и системы/Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Констр.-технол. ин-т науч. приборостр.. - 2012

Метрология быстропротекающих процессов/Всесоюз. науч.-исслед. ин-т физ.-техн. и радиотехн. измерений. - 1977

Фомин А. Ф. Отбраковка аномальных результатов измерений/А. Ф. Фомин, О. Н. Новоселов, А. В. Плющев. - 1985

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)