1.
| В37 А 59
Альфорд, Терри. Фундаментальные основы анализа нанопленок : пер. с англ. / Т. Альфорд, Л. Фельдман, Д. Майер ; пер.: А. Н. Образцов, М. А. Долганов ; науч. ред. А. Н. Образцов. - М. : Научный мир, 2012. - 390 с. - (Фундаментальные основы нанотехнологий : лучшие зарубежные учебники). - Библиогр. в конце гл. - Пер. изд. : Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer. - 2007. - ISBN 978-5-91522-225-9 : 588.37 р.ББК В371.26 Рубрики: Тонкие пленки--Наноструктуры--Методы исследования Материалы наноразмерные--Методы исследования Поверхность--Методы исследования
Содержание Держатели документа: Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН Доп.точки доступа: Фельдман, Леонард; Майер, Джеймс; Образцов, А. Н. \пер.\; Долганов, М. А. \пер.\; Образцов, А. Н. \науч. ред.\; Alford, Terry L. ; Feldman, Leonard C. ; Mayer, James W.
Экземпляры всего: 1 КФ (1) Свободных экз. нет} Найти похожие
|