Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>S=Микроскопия электронная растровая (РЭМ) -- Применение -- Нанотехнологии<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/Р 24
Заглавие : Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ.
Выходные данные : М.: БИНОМ. Лаб. знаний, 2013
Колич.характеристики :582 с.: ил. + 25 см
Перевод издания: Weili Zhou, ed. Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications/ Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. -2006
Примечания : Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8
ISBN, Цена 978-5-9963-1110-1: 1320.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 29.19.22
ББК : В338.48 + Ж36-1с + Ж607с
Предметные рубрики: Наноструктуры-- Исследование-- Методы
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Применение-- Нанотехнологии
Содержание : Основы растровой электронной микроскопии
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Content,
Содержание,
Глава 1
Найти похожие