Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>S=Микроскопия электронная -- Сборники<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
   В33
   Р 76


   
    Российская конференция по электронной микроскопии : тезисы докладов / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. Рос. конф. по электрон. микроскопии ; сопредс. орг. ком.: Н. А. Киселев, М. В. Ковальчук, В. А. Тулин. - Черноголовка : Богородский печатник, 2012. - 519 с. - Библиогр. в конце докл. - Авт. указ.: с. 514-519. - 250 экз. - ISBN 978-5-89589-060-8 : 210.00 р.
    Содержание:
Просвечивающая электронная микроскопия (аналитическая, низковольтная, растровая)
Электронная микроскопия в исследовании новых материалов, включая наноструктуры
Методы электронной дифракции и электронная кристаллография
Электронная оптика и новые приборы
Сканирующая зондовая микроскопия
Сканирующая электронная микроскопия
Электронная и ионная литография
Применение электронной и зондовой микроскопии в химии и геологии
Применение электронной, зондовой и конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине
ГРНТИ
ББК В338.48я431
Рубрики:
Микроскопия электронная--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Киселев, Н. А. \сопредс. орг. ком.\; Ковальчук, М. В. \сопредс. орг. ком.\; Тулин, В. А. \сопредс. орг. ком.\; Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАНИнститут кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российская конференция по электронной микроскопии (24 ; 29 мая - 1 июня 2012 г. ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
2.
   В33
   В 85


    Всесоюзная конференция по электронной микроскопии (11 ; 1979 ; окт. ; 16-18 ; Таллин).
    XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 1. Физика / Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор" ; ред. В. Н. Баранов [и др.]. - М. : Наука, 1979. - 336 с. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 324-334. - 900 экз. - 1.40 р.
    Содержание:
Электронная оптика и приборостроение
Микродифракция и структурный анализ в электронной микроскопии
Методы электронно-зондовых исследований
Тонкие пленки, поверхностные свойства и кристаллизация
Дифракционный контраст
Металлы и сплавы
Минералы
Полимеры, коллоидные сисетмы, аэрозоли
ГРНТИ
ББК В338я431 + В371.215я431
Рубрики:
Микроскопия электронная--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Баранов, В. Н. \ред.\; Смирнова, Р. С. \ред.\; Стельмащук, В. Я. \ред.\; Орлова, Е. В. \ред.\; Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР"Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
3.
   В33
   В 85


    Всесоюзная конференция по электронной микроскопии (11 ; 1979 ; окт. ; 16-18 ; Таллин).
    XI Всесоюзная конференция по электронной микроскопии : Таллин, 16-18 окт. 1979 г. : тезисы докл. Т. 2. Биология / Акад. наук СССР, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии АН СССР, Акад. наук ЭССР, Эстон. респ. об-ние "Эстколхозстрой", СКТБ "Дезинтегратор" ; ред. В. Н. Баранов [и др.]. - М. : Наука, 1979. - 268 с. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 261-267. - 900 экз. - 1.20 р.
ГРНТИ
ББК В338я431
Рубрики:
Микроскопия электронная--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Баранов, В. Н. \ред.\; Смирнова, Р. С. \ред.\; Стельмащук, В. Я. \ред.\; Орлова, Е. В. \ред.\; Академия наук СССР; Научный совет по электронной микроскопии АН СССР; Институт кристаллографии АН СССР; Академия наук Эстонской ССР"Эстколхозстрой", эстонское республиканское объединение; "Дезинтегратор", специальное конструкторско-технологическое бюро
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)