1. ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : В33/Р 24
Заглавие : Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
: пер. с англ.
Выходные данные : М.: БИНОМ. Лаб. знаний, 2013 Колич.характеристики :582 с.:
ил.
+ 25 см
Перевод издания: Weili Zhou, ed. Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications/ Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. -2006
Примечания : Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8
ISBN, Цена 978-5-9963-1110-1: 1320.00 р.
ГРНТИ : 29.35.43 + 29.19.22 ББК : В338.48 + Ж36-1с + Ж607с Предметные рубрики: Наноструктуры-- Исследование-- Методы Микроскопия электронная растровая (РЭМ)-- Применение-- Нанотехнологии Содержание : Основы растровой электронной микроскопии
Экземпляры :КФ(1) Свободны : КФ(1) Content, Содержание, Глава 1 Найти похожие
|