1. 
|
(Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : В37/А 59
Автор(ы) : Альфорд, Терри, Фельдман, Леонард, Майер, Джеймс
Заглавие : Фундаментальные основы анализа нанопленок
: пер. с англ.
Выходные данные : М.: Научный мир, 2012
Колич.характеристики :390 с
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий : лучшие зарубежные учебники
Перевод издания: Alford Terry L. Fundamentals of nanoscale film analysis/ Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer. -2007
Примечания : Библиогр. в конце гл.
ISBN, Цена 978-5-91522-225-9:
ГРНТИ : 29.19.22
ББК : В371.26
Предметные рубрики: Тонкие пленки-- Наноструктуры-- Методы исследования
Материалы наноразмерные-- Методы исследования
Поверхность-- Методы исследования
Экземпляры :КФ(1)
Содержание
Найти похожие
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН