Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
Регистрация
Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Базы данных
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска
Вид поиска
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН
Труды сотрудников ИФ СО РАН
Область поиска
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный
информационный
краткий
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>S=Поверхность -- Физико-химические исследования -- Анализ<.>)
Общее количество найденных документов
:
2
Показаны документы
с 1 по 2
1.
В37
В 85
Всесоюзная школа по
физике поверхности : Карпаты 1986 : тезисы оригинальных докл. / Акад. наук СССР, Акад. наук УССР, Науч. совет по проблеме "Физика, химия и механика поверхности", Ин-т физики твердого тела, Ин-т полупроводников, Киев. ун-т им. Т. Г. Шевченко ; отв. ред. В. С. Цой. - Черноголовка : [б. и.], 1986. - 168 с. - Библиогр. в конце ст. - Тем. указ.: с. 157 . - Авт. указ.: с. 158-163. - Б. ц.
Содержание:
Атомная и электронная структура атомно чистых поверхностей полупроводников и металлов
Свойства поверхностей с адсорбированными атомами и молекулами
Электронные кинетические и коллективные явления в двухмерных системах
Физические методы
исследования
поверхности
Границы раздела
ГРНТИ
29.19.16
ББК
В371.25я431
Рубрики:
Поверхность
--
Физико
-
химические
исследования
--
Анализ
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Цой, В. С. \ред.\; Академия наук СССРАкадемия наук Украинской ССР; Научный совет по проблеме "Физика, химия и механика поверхности" АН СССР; Институт физики твердого тела АН СССР; Институт полупроводников АН Украинской ССР; Киевский государственный университет им. Т. Г. Шевченко
Экземпляры всего:
1
КФ (1)
Свободны:
КФ (1)}
Найти похожие
2.
В37
Ф 37
Фелдман, Леонард
.
Основы
анализ
а поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева, под ред. В. В. Белошицкого. - М. : Мир, 1989. - 342 с. : ил. - Предм. указ.: с. 333-336. - Библиогр. в конце глав. -
Пер. изд. :
Fundomentals of surface and thin film analysis / L. C. Feldman, J. W. Mayer. -
ISBN
5-03-001017-3 : 3.70 р.
ГРНТИ
29.19.16
ББК
В371.26
Рубрики:
Тонкие пленки--
Физико
-
химические
исследования
--
Анализ
Поверхность
--
Физико
-
химические
исследования
--
Анализ
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Майер, Джеймс; Аркадьев, В. А. \пер.\; Огнев, Л. И. \пер.\; Белошицкий, В. В. \ред. пер.\; Feldman, L. C.; Mayer, J. W.
Экземпляры всего:
1
КФ (1)
Свободных экз. нет
}
Найти похожие
полный формат
краткий формат
все найденные
отмеченные
кроме отмеченных
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Другие библиотеки
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)