1.
| В37 А 46
Александров, Леонид Наумович. Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках / Л. Н. Александров, М. И. Зотов ; отв. ред. Л. С. Смирнов ; Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. - Новосибирск : Наука, Сиб. отд-ние, 1979. - 159 с. : ил. - Библиогр.: с. 149-158 (188 назв.). - 2500 экз. - 1.00 р.ББК В375.6 Рубрики: Полупроводники--Трение внутреннее Полупроводники--Дефекты
Держатели документа: Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН Доп.точки доступа: Зотов, Михаил Иванович; Смирнов, Л. С. \ред.\; Академия наук СССР; Сибирское отделение АН СССРИнститут физики полупроводников Сибирского отделения АН СССР
Экземпляры всего: 2 КФ (2) Свободны: КФ (2)} Найти похожие
|