Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=Тонкие пленки -- Структура<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/К 32
Автор(ы) : Квеглис, Людмила Иосифовна, Кашкин, Валентин Борисович
Заглавие : Диссипативные структуры в тонких нанокристаллических пленках
Выходные данные : Красноярск: Изд-во Сиб. фед. ун-та, 2011
Колич.характеристики :202 с
Коллективы : Сибирский федеральный университет
Примечания : Библиогр.: с. 185-200
ISBN, Цена 978-5-7638-2101-7:
ГРНТИ : 29.19.16 + 29.19.22
ББК : В371.26
Предметные рубрики: Тонкие пленки-- Структура
Содержание : Возможность появления диссипативных структур в аморфных и нанокристаллических пленках ; Методы получения и исследования пленочных материалов ; Двумерное преобразование Фурье и обработка изображений ; Исследования наноструктурных и структурных превращений в аморфных и нанокристаллических пленках ; Моделирование процессов взрывной кристаллизации и формирующихся атомных структур
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Полный текст в сети СФУ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Ю 16
Автор(ы) : Юдин, Виталий Витальевич
Заглавие : Стохастическая магнитная структура пленок с микропоровой системой
Выходные данные : М.: Наука, 1987
Колич.характеристики :214 с.: ил., 12 л. ил.
Коллективы : Академия наук СССР, Дальневосточный научный центр АН СССР, Институт химии Дальневосточного отделения РАН
Примечания : Библиогр.: с. 188-211
Цена : 2.50 р.
ГРНТИ : 29.19.16
ББК : В371.26
Предметные рубрики: Тонкие пленки-- Структура
Содержание : Прикладной спектральный анализ случайных процессов. Элементарная статистика потоков ; Гибридный оптико-цифровой комплекс для электронной микроскопии ; Исследование структурных дефектов и лабиринтной системы микропор в поликристаллических ТФП ; Планарная магнитная анизотропия ТФП кристаллической структуры ; Планарная наведенная магнитная анизотропия и система микропорных дефектов в мелкодисперсных пленках ; Регулярная магнитная структура и многофракционность системы пор в ультрадисперсных пленках
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие