1.
| В37 Ф 37
Фелдман, Леонард. Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева, под ред. В. В. Белошицкого. - М. : Мир, 1989. - 342 с. : ил. - Предм. указ.: с. 333-336. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundomentals of surface and thin film analysis / L. C. Feldman, J. W. Mayer. - ISBN 5-03-001017-3 : 3.70 р.ББК В371.26 Рубрики: Тонкие пленки--Физико-химические исследования--Анализ Поверхность--Физико-химические исследования--Анализ
Держатели документа: Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН Доп.точки доступа: Майер, Джеймс; Аркадьев, В. А. \пер.\; Огнев, Л. И. \пер.\; Белошицкий, В. В. \ред. пер.\; Feldman, L. C.; Mayer, J. W.
Экземпляры всего: 1 КФ (1) Свободных экз. нет} Найти похожие
|