Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>S=Тонкие пленки -- Физико-химические исследования -- Анализ<.>)

Общее количество найденных документов : 1

   В37
   Ф 37

    Фелдман, Леонард.
    Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева, под ред. В. В. Белошицкого. - М. : Мир, 1989. - 342 с. : ил. - Предм. указ.: с. 333-336. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundomentals of surface and thin film analysis / L. C. Feldman, J. W. Mayer. - ISBN 5-03-001017-3 : 3.70 р.

ГРНТИ

29.19.16

ББК В371.26
Рубрики:
Тонкие пленки--Физико-химические исследования--Анализ
Поверхность--Физико-химические исследования--Анализ

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Майер, Джеймс; Аркадьев, В. А. \пер.\; Огнев, Л. И. \пер.\; Белошицкий, В. В. \ред. пер.\; Feldman, L. C.; Mayer, J. W.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

Тематический навигатор

Другие библиотеки

Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН

Библиотека института биофизики

Библиотека института химии и химический технологии

Библиотека института вычислительного моделирования

Библиотека института леса

Библиотека СФУ

Краевая научная библиотека

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)