Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>A=Свиташева, Светлана Николаевна$<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   В37
   С 24


    Свиташева, Светлана Николаевна.
    Метод эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов / С. Н. Свиташева ; ред. О. П. Пчеляков. - Новосибирск : Изд-во СО РАН, 2019. - 261, [6] с. - Библиогр.: с. 245-261. - 77 экз. - ISBN 978-5-6042856-8-8. - ISBN 978-5-7692-1643-5 : Б. ц.
ГРНТИ
ББК В371.26 + В341.95

Аннотация: Интенсивное развитие оптической эллипсометрии обусловлено тем фактом, что изменение состояния поляризации светового луча весьма чувствительно к состоянию этой поверхности. Оптическая эллипсометрия на глазах одного поколения исследователей превратилась из лабораторной экзотики в один из основных методов контроляВ и внесла серьезный вклад в развитие цифровых технологий. Исследования, начатые Малюсом (1808 г.), Брюстером (1815 г.) , Друде (1889 г.), Релеем (1899 г.) и Борном (1926) сыграли значительную роль в развитии классической теории света. Кизель В.А. в своей книге «Отражение света» пишет: «Часто говорят, что закон отражения света древнейший и простейший из всех законов оптики. Если первое утверждение не вызывает сомнений, то простота закона – лишь кажущаяся; более серьезный его анализ выявляет ряд сложных вопросов, не полностью разрешенных и по сей день». При внешней простоте методов оптической эллипсометрии, грамотное и эффективное их использование требует весьма глубоких знаний как в области оптики, так и в области математики. Предлагаемая вниманию читателя книга будет полезна именно для молодого поколения исследователей и разработчиков, которым еще предстоит внести свой вклад в развитие оптической эллипсометрии.

Держатели документа:
Центральная научная библиотека КНЦ СО РАН : 660036, г. Красноярск, Академгородок, 50

Доп.точки доступа:
Пчеляков, О. П. \ред.\; Российская академия наукСибирское отделение РАН; Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН
Свободных экз. нет}
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)