Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Lannoo, Michel$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
   В37
   Б 91


    Бургуэн, Жак.
    Точечные дефекты в полупроводниках: экспериментальные аспекты / Ж. Бургуэн, М. Ланно ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина и др. ; [пер.] под ред. В. Л. Гуревича. - М. : Мир, 1985. - 304 с. : ил. - Библиогр.: с. 289-297. - Предм. указ.: с. 298-300. - Пер. изд. : Point defects in semiconductors / J. Bourgoin, M. Lannoo. - 2.70 р.
ГРНТИ
ББК В379.2
Рубрики:
Полупроводники--Дефекты

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Ланно, Мишель; Гальперин, Ю. М. \пер.\; Гуревич, В. Л. \ред.\; Bourgoin, J. ; Lannoo, Michel
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (2)}
Найти похожие
2.


    Lannoo, Michel.
    Point defects in semiconductors I [Text] : theoretical aspects / M. Lannoo, J. Bourgoin ; with foreword J. Friedel. - Berlin ; Heidelberg ; New York : Springer-Verlag, 1981. - 265 p. - (Springer series in solid-state sciences ; 22). - Includes bibliographical references and index. - ISBN 3-540-10518-2. - ISBN 0-387-10518-2 : 25.00 р.
Рубрики:
Semiconductors--Defects
   Point defects


Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Bourgoin, Jacques; Friedel, J. \авт. предисл.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)