Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=Микроскопия электронная растровая (РЭМ) -- Сборники<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

   В33
   Р 76


    XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии им. А.В. Шубникова. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2013. - 518 с. ; 21 см. - Библиогр. в конце ст. - Алф. указ.: с. 276-279. - ISBN 978-5-89589-065-3 : 210.00 р.

ГРНТИ

29.31.21

29.35.43

29.31.26

ББК В338.48я431 + В374я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники
Твердое тело--Методы исследования--Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (18 ; 2013 ; 3-7 июня ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

   В33
   Р 76


    XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : тезисы докладов / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2011. - + 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Библиогр. в конце ст. - Алф. указ.: с. 276-279. - 220 экз. - ISBN 978-5-89589-054-7 : 90 р.
    Содержание:
Приборы и электронная оптика
Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава
Сканирующая зондовая микроскопия
Наноструктуры и нанотехнологии
Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике
Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии
Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии

ГРНТИ

29.31.21

29.35.43

29.31.26

ББК В338.48я431 + В374я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники
Твердое тело--Методы исследования--Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (17 ; 2011 ; 30 мая-2 июня ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 2
КФ (2)
Свободны: КФ (2)}
Найти похожие

   В33
   Р 76


    XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'99 : тез. докл. / Рос. акад. наук, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочист. материалов, Ин-т кристаллографии. - Черноголовка : Богородский печатник, 1999. - 145 с. - Библиогр. в конце докл. - Авт. указ.: с. 142-145. - ISBN 5-89589-010-5 : 15.00 р.

ГРНТИ

29.35.43

29.19.19

ББК В338.4я431
Рубрики:
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Сборники

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Научный совет по электронной микроскопии РАН; Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН; Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (11 ; 1999 ; Черноголовка)
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

Тематический навигатор

Другие библиотеки

Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН

Библиотека института биофизики

Библиотека института химии и химический технологии

Библиотека института вычислительного моделирования

Библиотека института леса

Библиотека СФУ

Краевая научная библиотека

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)