Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>S=Электронная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 1

   В33
   О-75


    Основы аналитической электронной микроскопии / [Ньюбури Д. Е., Каули Дж. М., Вильямс Д. Б. и др.] ; под ред. Дж. Дж. Грен [и др.] ; пер. с англ. под ред. М. П. Усикова. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : граф., табл., фото. - Авт. указ. в огл. - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 576-578 (31 назв.). - 1800 экз. - 7.40 р.

ГРНТИ

29.35.43

ББК В338.4
Рубрики:
Электронная микроскопия

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Ньюбури, Д. Е.; Каули, Дж. М.; Вильямс, Д. Б.; Грен, Дж. Дж. \ред.\; Гольдштейн, Дж. И. \ред.\; Джоя, Д. К. \ред.\; Ромига, А. Д. \ред.\; Усиков, М. П. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие

Тематический навигатор

Другие библиотеки

Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН

Библиотека института биофизики

Библиотека института химии и химический технологии

Библиотека института вычислительного моделирования

Библиотека института леса

Библиотека СФУ

Краевая научная библиотека

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)