1. 
| В33
Р 24
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ. / ред. пер. Т. П. Каминская ; пер.: С. А. Иванов, К. И. Домкин. - М. : БИНОМ. Лаб. знаний, 2013. - 582 с. : ил. + 25 см. - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8. - Пер. изд. : Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications / Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. - 2006. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 1320.00 р.
Содержание:
Основы растровой электронной микроскопии ББК В338.48 + Ж36-1с + Ж607с
Рубрики:
Наноструктуры--Исследование--Методы
Микроскопия электронная растровая (РЭМ)--Применение--Нанотехнологии
Content,
Содержание,
Глава 1
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Каминская, Т. П. \ред. пер.\; Иванов, С. А. \пер.\; Домкин, К. И. \пер.\; Weili Zhou, ed.; Zhong Lin Wang, ed.
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН