1. ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/printer.jpg)
| В33 М 98
Мюллер, Э. Автоионная микроскопия (принципы и применение) / Э. Мюллер, Т. Цонь ; пер. с англ. В. А. Алексеева [и др.], под ред. Л. П. Потапова. - М. : Металлургия, 1972. - 360 с. : ил. - Библиогр.: с. 354-360. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Field ion microscopy. Principles and applications / E. W. Müller, T. T. Tsong. - New York, 1969. - (в пер.) : 2.54 р.ББК В338.48 Рубрики: Микроскопия электронная--Методы--Применение Микроскопия ионная--Методы--Применение
Держатели документа: Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН Доп.точки доступа: Цонь, Т.; Алексеев, В. А. \пер.\; Ширяев, П. П. \пер.\; Потапов, Л. П. \пер.\; Потапов, Л. П. \ред.\; Müller, E. W.; Tsong, T. T.
Экземпляры всего: 1 КФ (1) Свободны: КФ (1)} Найти похожие
|