1. ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/printer.jpg)
| В33 О-75
Основы аналитической электронной микроскопии / [Ньюбури Д. Е., Каули Дж. М., Вильямс Д. Б. и др.] ; под ред. Дж. Дж. Грен [и др.] ; пер. с англ. под ред. М. П. Усикова. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : граф., табл., фото. - Авт. указ. в огл. - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 576-578 (31 назв.). - 1800 экз. - 7.40 р.ББК В338.4 Рубрики: Электронная микроскопия
Держатели документа: Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН Доп.точки доступа: Ньюбури, Д. Е.; Каули, Дж. М.; Вильямс, Д. Б.; Грен, Дж. Дж. \ред.\; Гольдштейн, Дж. И. \ред.\; Джоя, Д. К. \ред.\; Ромига, А. Д. \ред.\; Усиков, М. П. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1 КФ (1) Свободны: КФ (1)} Найти похожие
|