1.
| Ж Б 87
Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие : пер с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. - Пер. изд. : Microstructural characterization of materials / David G. Brandon, Wayne D. Kaplan. - Chichester; New York , 1999. - 2000 экз. - ISBN 5-94836-018-0 : 145.00 р. Содержание: Дифракционный анализ кристаллической структуры Оптическая микроскопия Электронная микроскопия Микроанализ в электронной микроскопии Химический анализ поверхности Количественный анализ микроструктуры ББК Ж306в672я73 Рубрики: Материалы--Наноструктуры--Методы исследования--Учебники и учебные пособия
Держатели документа: Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН Доп.точки доступа: Каплан, У.; Баженов, Сергей Леонидович \ред. пер.\; Brandon, David G.; Kaplan, Wayne D.
Экземпляры всего: 1 КФ (1) Свободны: КФ (1)} Найти похожие
|