Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>S=Полупроводники -- Рентгеноструктурный анализ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   К2
   У 52


    Уманский, Яков Семенович.
    Рентгенография металлов и полупроводников : учеб. пособие для вузов / Я. С. Уманский. - М. : Металлургия, 1969. - 496 с. : рис., фот. - Библиогр.: с. 473-478. - 10500 экз. - 1.33 р.
    Содержание:
Физика рентгеновских лучей
Источники рентгеновских лучей и аппараты γ-дефектоскопии
Детекторы рентгеновских лучей
Структурный анализ, основные уравнения дифракции рентгеновских лучей от кристаллов и общая характеристика методов структурного анализа
Элементы рентгеноанализа монокристаллов
Методы рентгеноанализа поликристаллических веществ
Рентгеноанализ преимущественных ориентировок (текстур)
Рентгенографическое определение деформации решетки и размеров кристаллитов. Рентгеноанализ структурных изменений при нагреве деформированных кристаллических тел
Рентгеноанализ сплавов
Рентгеноанализ структурных изменений, вызываемых термической обработкой сплавов и воздействием ионизирующего излучения
Применение дифракции электронов и нейтронов для изучения структуры сплавов
Основные принципы рентгеноспектрального анализа
Радиационная дефектоскопия
Защита от воздействия рентгеновских и гамма-лучей
ГРНТИ
ББК К204.013я73 + Ж.с38я73 + К206.331я73
Рубрики:
Металлы--Рентгеноструктурный анализ
   Полупроводники--Рентгеноструктурный анализ


Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
КФ (1)
Свободны: КФ (1)}
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)