Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>S=Микроскопия сканирующая зондовая -- Методы -- Применение<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : В37/Р 94
Автор(ы) : Рыков, Сергей Александрович
Заглавие : Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : Учеб. пособ.
Выходные данные : СПб.: Наука, 2001
Колич.характеристики :52 с.: ил
Коллективы : "Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки", Федеральная целевая программа
Серия: Новые разделы физики полупроводников
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-02-024956-4: 0.00
ГРНТИ : 29.19.31 + 29.03.39
ББК : В379 + В338.48
Предметные рубрики: Микроскопия сканирующая зондовая-- Методы-- Применение
Экземпляры : всего : КФ(7)
Свободны : КФ(7)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В33/П 38
Автор(ы) : Плескова, Светлана Николаевна
Заглавие : Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях : учебное пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2011
Колич.характеристики :183 с
Примечания : Библиогр.: с. 173-183
ISBN, Цена 978-5-91559-108-9: 550.00 р.
ГРНТИ : 34.05 + 29.35.43
ББК : В338.48 + Г461.31
Предметные рубрики: Микроскопия сканирующая зондовая-- Методы-- Применение
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)