Поисковый запрос: (<.>A=Александрова, Галина Алексеевна$<.>) |
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Ferromagnetic|semicodactor Fe|Si nanostructures for spintronics/S. G. Ovchinnikov [et al.] // Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", 2009.-С.12
|
2.
| Паршин А. С. Моделирование сечения неупругого рассеяния отраженных электронов в системе пленка-подложка из диэлектрической теории/А. С. Паршин, С. А. Кущенков, Г. А. Александрова // Новое в магнетизме и магнитных материалах. -Москва, 2009.-С.83-85
|
3.
| Компьютерное моделирование сечения неупругого рассеяния электронов в трехслойных структурах типа "пленка-интерфейс-подложка" / С.А. Кущенков, А.С. Паршин, Г.А. Александрова/С. А. Кущенков // Решетневские чтения. -Красноярск, 2009. т.Т. 1,N Ч. 2.-С.681-682
|
4.
| Спектроскопия потерь энергии отраженных электронов и сечение неупругого рассеяния в анализе слоистых структур системы Fe-Si/А. С. Паршин [и др.] // Журнал структурной химии. -Новосибирск:Федеральное государственное унитарное предприятие Издательство Сибирского отделения Российской академии наук, 2009. т.Т. 50,N № 3.-С.451-455
|
5.
| Компьютерное моделирование сечения неупругого рассеяния электронов в трехслойных структурах типа пленка/интерфейс/подложка/С. А., Кущенков, А. С. Паршин [и др.] // Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. академика М.Ф. Решетнева, 2009. т.Вып. 4.-С.129-134
|
6.
| Application of inelastic electron scattering cross sections for quantitative analysis/A. S. Parshin [et al.] // Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", 2009.-С.20
|
7.
| New Opportunities for Quantitative Analysis as Applied to Reflected Electron Energy Loss Spectroscopy of Fe/Si Structures/A. S. Parshin [et al.] // Technical Physics, 2011. т.Vol. 56,N Is. 5.-С.656-661
|
8.
| Исследование интерфейса мультислоев Fe/Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов/А. С. Паршин, С. Н. Варнаков, С. Г. Овчинников, Г. А. Александрова // Кремний-2006. -Красноярск:ИФ СО РАН, 2006.-С.107
|
9.
| Метод спектральной эллипсометрии при элементно-градиентном сканировании поверхности монокристаллического кремния с эпитаксиальным слоем железа/С. А. Лященко, С. Н. Варнаков, О. П. Вайтузин [и др.] // Решетневские чтения. -Красноярск, 2009. т.Т. 1,N Ч. 2.-С.683-684
|
10.
| Новые возможности количественного анализа в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов структур Fe/Si/А. С. Паршин [и др.] // Журнал технической физики, 2011. т.Т. 81,N Вып. 5.-С.69-74
|
|
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Стандартный
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН