Поисковый запрос: (<.>A=Александрова, Галина Алексеевна$<.>) |
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Application of inelastic electron scattering cross sections for quantitative analysis/A. S. Parshin [et al.] // Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", 2009.-С.20
|
2.
| Ferromagnetic|semicodactor Fe|Si nanostructures for spintronics/S. G. Ovchinnikov [et al.] // Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", 2009.-С.12
|
3.
| New Opportunities for Quantitative Analysis as Applied to Reflected Electron Energy Loss Spectroscopy of Fe/Si Structures/A. S. Parshin [et al.] // Technical Physics, 2011. т.Vol. 56,N Is. 5.-С.656-661
|
4.
| Исследование интерфейса мультислоев Fe/Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов/А. С. Паршин, С. Н. Варнаков, С. Г. Овчинников, Г. А. Александрова // Кремний-2006. -Красноярск:ИФ СО РАН, 2006.-С.107
|
5.
| Исследование магнитных слоистых наноструктур Fe/Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов/А. С. Паршин [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2007,N № 8.-С.33-36
|
6.
| Александрова Г. А. Количественный анализ в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов в кремнии и железо-кремниевых структурах/Г. А. Александрова ; науч. рук. А. С. Паршин. - 2008
|
7.
| Александрова Г. А. Количественный анализ в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов в кремнии и железо-кремниевых структурах/Г. А. Александрова ; науч. рук. А. С. Паршин. - 2008
|
8.
| Компьютерное моделирование сечения неупругого рассеяния электронов в трехслойных структурах типа "пленка-интерфейс-подложка" / С.А. Кущенков, А.С. Паршин, Г.А. Александрова/С. А. Кущенков // Решетневские чтения. -Красноярск, 2009. т.Т. 1,N Ч. 2.-С.681-682
|
9.
| Компьютерное моделирование сечения неупругого рассеяния электронов в трехслойных структурах типа пленка/интерфейс/подложка/С. А., Кущенков, А. С. Паршин [и др.] // Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. академика М.Ф. Решетнева, 2009. т.Вып. 4.-С.129-134
|
10.
| Метод спектральной эллипсометрии при элементно-градиентном сканировании поверхности монокристаллического кремния с эпитаксиальным слоем железа/С. А. Лященко, С. Н. Варнаков, О. П. Вайтузин [и др.] // Решетневские чтения. -Красноярск, 2009. т.Т. 1,N Ч. 2.-С.683-684
|
|
|